編號：FTJS01748
篇名：退火溫度對La0.4Nd0.1Sr0.5MnO3薄膜結(jié)構(gòu)及CMR的影響
作者：財喜雅拉圖； 劉建； 金永軍；
關(guān)鍵詞：薄膜； 退火； 結(jié)構(gòu)； 磁電阻； XPS譜； 稀土；
機(jī)構(gòu)： 內(nèi)蒙古大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院； 內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)理學(xué)院；
摘要： 利用射頻磁控濺射法結(jié)合后退火工藝在LaAlO3(100)襯底上制備了La0.4Nd0.1Sr0.5MnO3(LNSMO)一系列薄膜樣品。通過X射線衍射儀(XRD)、原子力顯微鏡(AFM)、光電子能譜(XPS)、四探針法對其結(jié)構(gòu)及性質(zhì)進(jìn)行了測試。結(jié)果表明,薄膜在700～900℃溫度區(qū)間退火形成單相的贗立方鈣鈦礦結(jié)構(gòu)。退火溫度不同導(dǎo)致薄膜中氧含量發(fā)生變化并且對晶粒的尺寸也有很大影響。經(jīng)過850℃退火的薄膜樣品,在室溫300 K,磁場為1.5 T的條件下,磁電阻達(dá)到24.9%。
