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        SiO_2摻雜(PEO)_8-LiClO_4固體電解質(zhì)的性能研究

        編號:NMJS01062

        篇名:SiO_2摻雜(PEO)_8-LiClO_4固體電解質(zhì)的性能研究

        作者:李云; 于濤; 畢孝國; 程明; 張士宏;

        關(guān)鍵詞:納米SiO2; 復(fù)合聚合物電解質(zhì); 電導(dǎo)率; 透光率;

        機構(gòu): 沈陽化工大學(xué)應(yīng)用化學(xué)學(xué)院; 沈陽工程學(xué)院動力系; 中國科學(xué)院金屬研究所;

        摘要: 通過正硅酸乙酯水解得到的SiO2溶膠,摻雜于(PEO)8-LiClO4固體電解質(zhì)體系中。得到厚度約為130μm性能良好的聚合物電解質(zhì)薄膜,利用交流阻抗法測定聚合物電解質(zhì)的電導(dǎo)率,通過紅外光譜對聚合物電解質(zhì)薄膜的基團狀態(tài)進行分析研究。結(jié)果表明摻雜SiO2后(PEO)8-LiClO4固體電解質(zhì)的室溫電導(dǎo)率有很大提高,在SiO2質(zhì)量分數(shù)為10%時最高,達到2.522×10-6S/cm;溫度的升高有利于電導(dǎo)率的提升,電導(dǎo)率與溫度關(guān)系遵循Arrhenius方程,在lgσ-1000/T曲線上以為PEO的熔點為轉(zhuǎn)折點,體現(xiàn)為兩條斜率不同的直線,在80℃時體系的離子電導(dǎo)率為6.852×10-6 S/cm。紅外光譜、XRD分析表明,加入SiO2后PEO的結(jié)晶度降低,體系不定形相增加,有利于離子電導(dǎo)率的提高。對該電解質(zhì)薄膜進行了透光率測定,表明各組分下該薄膜透光率基本保持在96%以上,確定了將其應(yīng)用于電致變色器件的可能性。

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