編號：NMJS01023
篇名：殼聚糖-多壁碳納米管修飾玻碳電極差分脈沖溶出伏安法測定痕量鈀(Ⅱ)
作者：齊蕾; 齊同喜;
關(guān)鍵詞：殼聚糖; 多壁碳納米管; 修飾玻碳電極; 差分脈沖溶出伏安法; 鈀(Ⅱ);
機構(gòu)： 南京大學化學化工學院; 山東理工大學化學工程學院;
摘要： 將多壁碳納米管(MWCNT)分散于殼聚糖(CTS)溶液中,修飾在玻碳電極(GCE)表面,制成了殼聚糖-多壁碳納米管修飾玻碳電極(CTS-MWCNT-GCE)。利用差分脈沖溶出伏安法研究了鈀(Ⅱ)在該電極上的溶出伏安特性,優(yōu)化了試驗條件,提出了一種測定痕量鈀(Ⅱ)的新方法。試驗發(fā)現(xiàn),在0.1 mol/L乙酸鈉-0.1 mol/L鹽酸緩沖溶液(pH 4.10)中,鈀(Ⅱ)于-400 mV處被富集在該修飾電極表面,在-300 mV~400 mV電位范圍內(nèi),以100 mV/s的速率掃描,鈀(Ⅱ)在135 mV(vs.SCE)處出現(xiàn)一靈敏的溶出峰,峰電流與鈀的濃度在1.88×10-9~1.69×10-8mol/L范圍內(nèi)呈良好的線性關(guān)系,檢出限為3.10×10-10mol/L。該修飾電極具有良好的穩(wěn)定性和重復性,在含有1.0×10-9mol/L鈀的溶液中,連續(xù)11次測定,其相對標準偏差(RSD)為0.21%。方法用于礦樣中痕量鈀(Ⅱ)的測定,測定結(jié)果同火焰原子吸收光譜法(FAAS)的測定結(jié)果基本一致。
