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        Sr/Si(100)表面TiSi_2納米島的掃描隧道顯微鏡研究

        編號:NMJS00833

        篇名: Sr/Si(100)表面TiSi_2納米島的掃描隧道顯微鏡研究

        作者:楊景景; 杜文漢;

        關(guān)鍵詞:TiSi2納米島; Sr/Si(100)表面; 掃描隧道顯微鏡;

        機構(gòu): 常州工學(xué)院物理實驗中心; 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)微尺度物質(zhì)科學(xué)國家實驗室;

        摘要: 為了解半導(dǎo)體襯底與氧化物之間存在的相互作用,以及量子尺寸效應(yīng)對不同再構(gòu)體的影響,制備了1—2個原子層厚的TiSi2/Si(100)納米島,并使用掃描隧道顯微鏡(STM)表征手段詳細(xì)地研究了TiSi2/Si(100)納米島的電子和幾何特性.結(jié)果發(fā)現(xiàn):這些納米島表面顯示出明顯的金屬性;其空態(tài)STM圖像具有典型的偏壓依賴性:在高偏壓下STM圖像由三聚物形成的單胞構(gòu)成,并在低偏壓下STM圖像顯示為密堆積的圖案,這些不同的圖案反映出不同能量位的態(tài)密度有明顯差異.

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