編號：FTJS01276
篇名：X-射線熒光光譜直接壓片法測定氧化鋁中雜質Ga_2O_3含量
作者：張曉平;
關鍵詞：X-射線熒光光譜儀; 直接壓片法; 氧化鋁; Ga2O3;
機構： 包頭鋁業(yè)有限公司;
摘要： 用X-射線熒光光譜直接壓片法測定氧化鋁中雜質Ga2O3含量。該方法快捷方便,準確度、精密度高,能滿足科研和工業(yè)生產(chǎn)的需要。
