編號：FTJS01167
篇名：ICP-AES測定微硅粉中Ca、Mg、Fe和Al的含量
作者：何素芳; 劉春俠; 賀與平; 單云; 熊敏; 羅永明;
關(guān)鍵詞：電感耦合等離子體-原子發(fā)射光譜法; 微硅粉; 鈣; 鎂; 鐵; 鋁;
機構(gòu)： 昆明理工大學(xué)分析測試研究中心; 昆明理工大學(xué)環(huán)境科學(xué)與工程學(xué)院;
摘要： 微硅粉樣品經(jīng)氫氟酸、硝酸、高氯酸消解,電感耦合等離子體-原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)測定Ca、Mg、Fe、Al雜質(zhì)元素含量。方法的回收率為:Ca 95.2%—100.3%,Mg 96.2%—99.6%,Fe 95.8%—97.2%,Al 98.6%—104.6%,精密度在1.50%—2.59%之間。本方法線性范圍寬、分析效率高、具有良好的準(zhǔn)確性和精密度,能快速準(zhǔn)確地測定微硅粉中Ca、Mg、Fe和Al雜質(zhì)元素的含量。
