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        刻蝕工藝參數(shù)對(duì)單晶硅太陽(yáng)能電池性能影響

        編號(hào):FTJS09778

        篇名:刻蝕工藝參數(shù)對(duì)單晶硅太陽(yáng)能電池性能影響

        作者:周平 周林 安文俊

        關(guān)鍵詞: 刻蝕 單晶硅 工藝參數(shù) 添加劑 太陽(yáng)能電池

        機(jī)構(gòu): 江西工程學(xué)院智能制造與能源工程學(xué)院

        摘要: 以單晶硅太陽(yáng)能電池刻蝕為研究對(duì)象,研究應(yīng)用電子顯微鏡觀察、電性能分析等方法,揭示不同刻蝕工藝參數(shù)下單晶硅片塔基的微觀形態(tài)及電性能.結(jié)果表明:通過(guò)應(yīng)用優(yōu)質(zhì)刻蝕添加劑,可使硅片塔基形狀改善,電性能參數(shù)提高;添加劑初期時(shí)生產(chǎn)的電池片填充因子提高1.0299;高減重單晶硅太陽(yáng)能電池片反射率相對(duì)較低.

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