編號：CYYJ02264
篇名：鈦薄膜力學(xué)行為和疲勞性能的納米級動態(tài)力學(xué)分析
作者：劉金娜 王海斗 邢志國 徐濱士 崔秀芳 金國
關(guān)鍵詞： 鈦薄膜 疲勞 納米壓痕 納米級動態(tài)力學(xué)分析 殘余應(yīng)力
機構(gòu)： 哈爾濱工程大學(xué)材料科學(xué)與化學(xué)工程學(xué)院 哈爾濱工程大學(xué) 陸軍裝甲兵學(xué)院裝備再制造技術(shù)國防科技重點實驗室
摘要： 利用納米壓痕試驗研究了不同厚度鈦薄膜的力學(xué)行為和疲勞性能。在納米級動態(tài)力學(xué)分析的基礎(chǔ)上,根據(jù)儲存剛度的變化定量計算了薄膜的疲勞壽命。結(jié)果表明,薄膜的疲勞壽命與殘余應(yīng)力有顯著的關(guān)系。壓痕原位掃描圖像顯示,薄膜出現(xiàn)明顯堆積分層,長裂紋從壓頭中心向壓頭邊緣垂直延伸。而且,壓痕周圍積累了大量的應(yīng)力,納米級動態(tài)加載過程產(chǎn)生了高度局域化的塑性變形和應(yīng)力釋放。薄膜內(nèi)部的殘余壓應(yīng)力將抵消部分載荷應(yīng)力,提高薄膜的疲勞壽命。
