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        不同表面電荷的納米CeO2的合成及表征

        編號:CPJS06228

        篇名:不同表面電荷的納米CeO2的合成及表征

        作者:馮盛 馬宇輝 楊芳 張智勇

        關(guān)鍵詞: 納米CEO2 表面電荷 聚丙烯酸 殼聚糖

        機(jī)構(gòu): 河北工業(yè)大學(xué)化工學(xué)院 中國科學(xué)院高能物理研究所

        摘要: 納米毒理學(xué)研究中,納米材料在暴露介質(zhì)中的穩(wěn)定懸浮是確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果具有可重復(fù)性的關(guān)鍵。采用沉淀法合成了粒徑為6.8±0.9 nm的CeO2納米顆粒(nCeO2),再經(jīng)殼聚糖(Cs)或聚丙烯酸(PAA)修飾后分別得到表面電荷為正的Cs-nCeO2納米顆粒和表面電荷為負(fù)的PAA-nCeO2納米顆粒。紅外光譜結(jié)果表明原始CeO2納米顆粒表面成功修飾了有機(jī)基團(tuán)。TEM觀察發(fā)現(xiàn), Cs-nCeO2和PAA-nCeO2與原始的nCeO2形狀相似,粒徑均勻。在植物培養(yǎng)常用的霍格蘭氏(Hoagland′s)營養(yǎng)液中,兩者均能保持原有的電荷性質(zhì)及水合粒徑,且能穩(wěn)定存在至少30 d。

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