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        電化學(xué)沉積制備納米晶Bi-Te薄膜及其表征

        編號(hào):NMJS06516

        篇名:電化學(xué)沉積制備納米晶Bi-Te薄膜及其表征

        作者:曹一琦[1] ;黃小華[1] ;吳建波[1] ;林燕[1] ;郭仁青[1] ;張勝楠[2]

        關(guān)鍵詞: 電化學(xué)沉積 恒電流 薄膜 熱電材料 BI2TE3 納米棒

        機(jī)構(gòu): [1]臺(tái)州學(xué)院,浙江臺(tái)州318000; [2]西北有色金屬研究院,陜西西安710016

        摘要: 采用恒電流電化學(xué)沉積工藝制備Bi-Te二元薄膜。隨著沉積時(shí)間的變化,在同一個(gè)電極上依次出現(xiàn)了單相的Bi2Te3和Bi4Te3薄膜。其中,Bi2Te3薄膜是由規(guī)則的長度為100 nm左右,平均寬度為10 nm的納米棒組成,其具有非常大的比表面積,非常有利于其作為熱電材料的應(yīng)用。而Bi4Te3薄膜是由納米顆粒團(tuán)聚而成的不規(guī)則多面體組成。研究證明通過改變沉積參數(shù),有可能在Bi-Te二元系統(tǒng)的沉積過程中對(duì)生成物的相組成和形貌進(jìn)行調(diào)控。

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