用Vogit函數(shù)法測定Al-Pb納米相復(fù)合結(jié)構(gòu)中Pb相的晶粒尺寸和點(diǎn)陣畸變

編號：NMJS06453

篇名：用Vogit函數(shù)法測定Al-Pb納米相復(fù)合結(jié)構(gòu)中Pb相的晶粒尺寸和點(diǎn)陣畸變

作者：吳志方 ;劉超 ;周帆

關(guān)鍵詞： Vogit函數(shù)法 Al-Pb納米相復(fù)合結(jié)構(gòu) 晶粒尺寸 點(diǎn)陣畸變

機(jī)構(gòu)： 武漢科技大學(xué)鋼鐵冶金及資源利用省部共建教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

摘要： 用Vogit函數(shù)法測定高能球磨制備的Al-Pb納米相復(fù)合結(jié)構(gòu)中Pb相的晶粒尺寸和點(diǎn)陣畸變,并與透射電鏡(TEM)觀察結(jié)果進(jìn)行比較。結(jié)果表明,Vogit函數(shù)法測定Pb相的晶粒尺寸與TEM觀察結(jié)果相一致。這說明Vogit函數(shù)法的分析結(jié)果可靠,可用于常規(guī)分析。