編號(hào)：NMJS05737
篇名：一維氧化鋅納米材料的損傷與服役行為原位研究
作者：張錚[1] ;李培峰[1,2] ;廖慶亮[1] ;張躍[1,3]
關(guān)鍵詞：一維納米材料 氧化鋅 損傷與服役行為 原位研究
機(jī)構(gòu)： [1]北京科技大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,北京100083; [2]香港城市大學(xué)機(jī)械與生物醫(yī)學(xué)工程學(xué)系,香港999077; [3]北京市新能源材料與技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京100083
摘要： 隨著納米材料功能化研究的深入與納器件制造技術(shù)的發(fā)展,大量基于納米材料小尺寸、高靈敏度和特殊性能的新型納米器件相繼問世,并在能量轉(zhuǎn)換和信息傳感等新型電子器件上得到了廣泛應(yīng)用。因此,發(fā)展新的表征手段和測試方法,發(fā)現(xiàn)和揭示納米材料與納器件基本結(jié)構(gòu)單元在服役條件下的結(jié)構(gòu)與性能演變規(guī)律,進(jìn)而歸納和總結(jié)納器件服役行為成為納米材料與器件走向應(yīng)用過程中亟待解決的問題。將掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscopy,SPM）、掃描電子束顯微鏡（Scanning Electron Microscopy,SEM）和透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope,TEM）等傳統(tǒng)表征技術(shù)與微納加工技術(shù)、電學(xué)測量系統(tǒng)相結(jié)合,精確模擬納米材料的服役條件,實(shí)現(xiàn)對(duì)納米材料的結(jié)構(gòu)和物性演變規(guī)律的原位研究,是揭示納米材料的損傷與服役行為的新方法。本文重點(diǎn)綜述近年來采用SEM和SPM表征手段下原位研究一維Zn O納米材料在力學(xué)、電學(xué)及力電耦合效應(yīng)下的損傷與服役現(xiàn)象、性能演變規(guī)律及損傷基本機(jī)理。
