編號：CPJS04328
篇名：微納米鐵粉熱穩(wěn)定性實驗研究
作者：劉娓[1] ;金晶[1,2] ;高文靜[1] ;趙慶慶[1] ;張盈文[1] ;劉磊[1] ;
關鍵詞：微納米 熱穩(wěn)定性 晶粒長大 微觀應變
機構： [1]上海理工大學能源與動力工程學院; [2]上海理工大學協(xié)同創(chuàng)新研究院;
摘要： 利用管式電阻爐和X射線衍射儀(XRD)實施了對恒溫退火處理100、200、300和500 nm 4種粒徑的微納米鐵粉熱穩(wěn)定特性實驗研究,通過函數擬合衍射峰圖譜計算其微觀應變,分析退火過程中微納米鐵粉晶粒長大現象。結果表明:微觀應變的大小和晶粒長大過程密切相關,隨著退火溫度升高,微觀應變逐漸減小,晶粒尺寸增大。100、200和300 nm微納米鐵粉200℃以下晶粒長大迅速,200℃以上長大速度減小;500 nm鐵粉晶粒200℃以下長大速度比較緩慢,200℃以上晶粒迅速長大。低溫下大粒徑鐵粉熱穩(wěn)定性優(yōu)于小粒徑鐵粉。
