編號：NMJS05618
篇名：邊緣效應(yīng)和幾何效應(yīng)對SHRIMP IIe MC氧同位素分析精度影響
作者：龍濤； 石堅； 包澤民； Stephen W.J.Chement； 張玉海； 田地； 劉敦一；
關(guān)鍵詞：高分辨率離子探針 氧同位素分析 邊緣效應(yīng) 幾何效應(yīng)
機構(gòu)： 吉林大學(xué)儀器科學(xué)與電氣工程學(xué)院； 中國地質(zhì)科學(xué)院地質(zhì)研究所；
摘要： SHRIMPⅡe MC被廣泛應(yīng)用于鋯石、磷灰石、碳酸鈣等副礦物的氧同位素分析。本工作針對其氧同位素分析過程中的邊緣效應(yīng)及幾何效應(yīng)（X-Y效應(yīng)）,建立二次離子提取結(jié)構(gòu)的SIMION仿真模型,探討了XY效應(yīng)、邊緣效應(yīng)的產(chǎn)生原因及影響因素,為SHRIMPⅡe MC高精度氧同位素分析提供指導(dǎo)。通過限制氧同位素分析點位置（樣品位于靶中間直徑10 mm內(nèi),靶表面粗糙度<1μm）,可使鋯石δ18O單點內(nèi)部精度優(yōu)于0.15‰（1σ）,外部精度優(yōu)于0.5‰（95%的置信區(qū)）;碳酸鹽礦物δ18O單點內(nèi)部精度優(yōu)于0.20‰（1σ）,外部精度優(yōu)于0.6‰（95%的置信區(qū)）。
