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        透射電鏡在仿硅藻結(jié)構(gòu)的介孔二氧化硅表征和制備中的應(yīng)用

        編號:SBJS00465

        篇名:透射電鏡在仿硅藻結(jié)構(gòu)的介孔二氧化硅表征和制備中的應(yīng)用

        作者:趙彥偉[1] ;李蕊[1] ;李藝[1] ;楊永剛[1]

        關(guān)鍵詞:透射電鏡 模板 介孔 二氧化硅

        機構(gòu): [1]蘇州大學材料與化學化工學部分析測試中心,蘇州215123

        摘要: 透射電子顯微鏡由于其高分辨率廣泛應(yīng)用于材料研究中。利用透射電鏡對材料進行表征,可以更好地研究材料的微觀結(jié)構(gòu)特征,揭示宏觀現(xiàn)象與介觀和微觀結(jié)構(gòu)間的關(guān)系,并開發(fā)出具有特異性能的新材料。本實驗用苯甘氨酸衍生物為模板制備出類似硅藻結(jié)構(gòu)的納米介孔二氧化硅,用透射電子顯微鏡研究了反應(yīng)組成的變化對硅藻結(jié)構(gòu)的介孔二氧化硅納米材料制備和形貌結(jié)構(gòu)的影響。

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