散射角對(duì)相關(guān)光譜法納米顆粒測(cè)量的影響

編號(hào)：CSJS00025

篇名：散射角對(duì)相關(guān)光譜法納米顆粒測(cè)量的影響

作者：趙軍; 孔明; 李春燕;

關(guān)鍵詞：相關(guān)光譜法; 散射角; 納米顆粒; 米氏散射;

機(jī)構(gòu)： 中國(guó)計(jì)量學(xué)院計(jì)量測(cè)試工程學(xué)院;

摘要： 研究散射角對(duì)相關(guān)光譜法納米顆粒測(cè)量的影響,對(duì)相關(guān)光譜法納米顆粒實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)進(jìn)行改造,實(shí)現(xiàn)不同的散射角下納米顆粒的相關(guān)光譜法測(cè)量。實(shí)驗(yàn)采用30nm和200nm的混合顆粒群,按不同比例進(jìn)行混合,在90°和165°散射角對(duì)混合顆粒群進(jìn)行測(cè)量,并對(duì)此實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行了理論分析,結(jié)果表明,在對(duì)單一顆粒群進(jìn)行測(cè)量時(shí),在兩個(gè)角度都能實(shí)現(xiàn)顆粒的準(zhǔn)確測(cè)量,而在混合顆粒群測(cè)量時(shí),測(cè)量結(jié)果受兩種顆粒群混合比影響,而165°散射角具有更好的測(cè)量結(jié)果,因此在對(duì)混合納米顆粒群進(jìn)行測(cè)量時(shí),采用大的散射角有助于顆粒的反演。