編號：CPJS03631
篇名：銀/二氧化硅核殼納米顆粒的制備及其殼層厚度對其光學性質(zhì)的影響
作者：鄭義智； 王海水；
關(guān)鍵詞：銀納米； 二氧化硅； 核殼結(jié)構(gòu)； 等離子體吸收峰； 折射率靈敏度；
機構(gòu)： 華南理工大學化學與化工學院；
摘要： 通過溶膠-凝膠法,制備了銀/二氧化硅核殼材料(Ag@SiO2),對SiO2殼層厚度進行了有效調(diào)控,并系統(tǒng)研究了殼層厚度對銀的等離子體共振峰(LSPR)以及對折射率靈敏度(RIS)的影響。研究結(jié)果表明,隨SiO2殼層包覆厚度的增加,銀納米顆粒的LSPR吸收峰呈現(xiàn)先紅移后藍移的規(guī)律。對于粒徑為50 nm的銀納米顆粒,當SiO2殼層達到65 nm時,LSPR最大吸收波長為465 nm。進一步增加SiO2殼層厚度,LSPR發(fā)生藍移并且強度變?nèi)?當SiO2殼層達到120 nm時,LSPR吸收峰已無法清晰辨認。研究了Ag@SiO2材料的RIS效應(yīng),發(fā)現(xiàn)隨著SiO2厚度的增大RIS效應(yīng)逐漸變小。
