顆粒粒度分布分辨率的研究

編號：CSJS00024

篇名：顆粒粒度分布分辨率的研究

作者：崔敏敏; 徐錢芳; 簡淼夫;

關(guān)鍵詞：顆粒測量; 粒度分布分辨率; 分辨臨界點; 分布參數(shù);

機構(gòu)： 南京工業(yè)大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院;

摘要： 粒度分布分辨率對于顆粒的測量是至關(guān)重要的,也是評估儀器分辨率的重要條件。但是當(dāng)前諸多對于粒度分布分辨率的描述都沒有給出明確的分辨臨界點,也就無法評估儀器的分辨率。作者通過正態(tài)分布、RRB分布以及對數(shù)正態(tài)分布三種顆粒分布模型模擬確立了分辨臨界并進行了驗證,結(jié)果表明所確立的分辨臨界是準確而合理的。影響儀器分辨率的評估準確性的另一方面是標準顆粒的選取,其中顆粒的分布參數(shù)是選擇標準顆粒的關(guān)鍵。在應(yīng)用分辨臨界評估儀器分辨率時,發(fā)現(xiàn)分布參數(shù)的值越大,評估結(jié)果的準確性就會越高。