編號(hào)：CSJS00137
篇名：納米激光粒度儀在硅溶膠粒度測(cè)試中的應(yīng)用研究
作者：徐明艷； 代克； 王樂(lè)軍； 周萬(wàn)里；
關(guān)鍵詞：Zetasizer Nano ZS； 硅溶膠； 納米激光粒度儀； 測(cè)試；
機(jī)構(gòu)： 鄭州磨料磨具磨削研究所有限公司；
摘要： 使用Zetasizer Nano ZS型納米激光粒度儀分別對(duì)GRJ10030和GRJ10050(氧化硅質(zhì)量分?jǐn)?shù)30%、50%,粒徑約100nm)的兩種硅溶膠進(jìn)行了粒度檢測(cè)。結(jié)果發(fā)現(xiàn):原液中存在多重散射及粒子間的相互作用。隨稀釋倍數(shù)增加,多重散射及粒子間相互作用被削弱,氧化硅質(zhì)量分?jǐn)?shù)低于10%時(shí),兩種硅溶膠的平均粒徑(Z-Ave)值、多分散系數(shù)(PDI)值、粒度分布等均分別趨于一致。GRJ10030型硅溶膠5倍稀釋液,GRJ10050型硅溶膠20倍稀釋液,有相對(duì)集中、穩(wěn)定的粒度分布,且測(cè)試重現(xiàn)性良好。
