編號(hào)：FTJS05370
篇名：退火溫度對(duì)Ti/IrO_2-CeO_2電極組織結(jié)構(gòu)與電容性能的影響
作者：婁長影； 朱君秋； 邵艷群； 馬曉磊； 唐電；
關(guān)鍵詞：晶化程度； 超級(jí)電容器； IrO2-CeO2； 退火； 稀土；
機(jī)構(gòu)： 福州大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院； 廈門理工學(xué)院材料科學(xué)與工程學(xué)院；
摘要： 采用熱分解法制備了鈦基IrO2-CeO2二元氧化物涂層電極(Ti/IrO2-CeO2)。通過X射線熒光衍射(XRD),(SEM),循環(huán)伏安和交流阻抗等方法研究了退火溫度對(duì)Ti/IrO2-CeO2涂層電極組織結(jié)構(gòu)與電容性能的影響。結(jié)果表明,隨退火溫度升高,IrO2-CeO2涂層由非晶態(tài)向晶態(tài)轉(zhuǎn)變,晶化程度逐漸升高;在460~480℃高溫退火,IrO2-CeO2涂層中仍含有約28%的非晶態(tài)組織,說明CeO2有抑制IrO2晶化的作用。當(dāng)退火溫度為380℃時(shí),電極的晶化程度約為25%,比電容達(dá)到最大值,并具有良好的循環(huán)穩(wěn)定性。電極的電荷轉(zhuǎn)移電阻取決于電極的晶化程度,隨退火溫度升高呈階梯下降趨勢(shì)。
