編號：CSJS00105
篇名：基于納米機械振子的光學質譜儀
作者：李金金； 賓文； 朱卡的；
關鍵詞：納米機械振子； 質量測量； 納米碳管； 石墨烯納米帶； 光學質譜儀；
機構： 上海交通大學物理與天文系,人工結構與量子調控教育部重點實驗室；
摘要： 納米機械振子具有超小的質量、超高的品質因數和振動頻率以及其他優(yōu)點,越來越受到人們的關注和認可.隨著納米科技的快速發(fā)展,納米機械振子逐步進入到生物、化學、物理、醫(yī)學等領域,成為科學研究工作者追求高質量和高性能材料的輔助系統(tǒng).本文總結了本課題組近年來對納米機械振子研究的一個重要應用:納米光學質譜儀.在全光條件下,質量測量對象可為中性原子、質子、中子,也可為其他化學分子或生物分子等.我們提供的納米機械振子材料為納米碳管和石墨烯納米帶.研究發(fā)現,基于納米機械振子的光學質譜儀與傳統(tǒng)的電學質譜儀相比有很多優(yōu)越性,如不會引發(fā)由電路引起的熱效應和能量損失,基于質量測量的光學譜寬更窄等.與單束光探測方法相比,不受頻率高低的限制.此研究工作提出的基于全光學的質量測量方案,打破了電學測量和單束光領域中的眾多限制,有望更大程度地提高質量測量的靈敏度和準確度,為納米測量領域提供一個新的平臺.
