編號(hào)：FTJS04626
篇名：X射線熒光光譜法測定鈦白粉樣品中10種微量元素
作者：寸鳳妹； 李小莉；
關(guān)鍵詞：X； 射線熒光光譜法； 鈦白粉樣品； 微量元素；
機(jī)構(gòu)： 越鋼控股集團(tuán)有限公司； 天津地質(zhì)礦產(chǎn)研究所；
摘要： 采用粉末壓片,用Axios XRF光譜儀測定鈦白粉品中Sb、Nb、Zr、Fe、S、P、K、Si、Al和Te 10種微量元素。以標(biāo)準(zhǔn)樣品的配置和樣品的制備為重點(diǎn),在鈦白粉樣品中加入一定量的甲基纖維素混勻、壓片,樣品表面光滑、平整�？朔擞免伆追蹣悠分苯訅浩�,由于樣品粘性較大不僅粘模具,而且樣片表面凹凸不平的缺點(diǎn)。用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)和RhKα線的康普頓散射線作內(nèi)標(biāo)校正基體效應(yīng),方法簡便、快速、準(zhǔn)確,分析結(jié)果準(zhǔn)確度能滿足工廠質(zhì)量監(jiān)控要求。
