編號：NMJS04740
篇名：Eu-Ru共摻NiO-SnO_2復(fù)合納米粒子薄膜的阻變特性
作者：李建昌； 王玉磊； 徐彬； 侯雪艷；
關(guān)鍵詞：低溫水浴法； NiO-Sn02復(fù)合納米粒子； 阻變特性； 電荷俘獲或釋放； Eu-Ru共摻雜；
機(jī)構(gòu)： 東北大學(xué)機(jī)械工程與自動化學(xué)院；
摘要： 通過低溫水浴法制備了Eu-Ru共摻雜NiO-SnO2復(fù)合納米粒子,透射電鏡圖像顯示納米粒子粒徑均勻,選區(qū)電子衍射表明結(jié)晶性差,所測晶面間距與SnO2和NiO相應(yīng)卡片數(shù)據(jù)一致,水熱機(jī)理分析表明納米粒子由NiO-SnO2微觀p-n結(jié)組成.原子力顯微鏡測試薄膜表面平均粗糙度約0.25 nm,由于薄膜太薄及樣品結(jié)晶性差,XRD分析未見明顯衍射峰.電學(xué)測試表明納米粒子薄膜具有可重復(fù)雙極阻變特性,閾值電壓約1 V,開關(guān)比約500.薄膜高阻態(tài)電學(xué)輸運(yùn)符合缺陷俘獲載流子所致空間電荷限制導(dǎo)電機(jī)制,低阻態(tài)呈歐姆特性,故阻變機(jī)理應(yīng)為電荷俘獲及再釋.
