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        熔鹽電解SiO_2/C直接制備SiC納米線

        編號(hào):NMJS04432

        篇名:熔鹽電解SiO_2/C直接制備SiC納米線

        作者:趙春榮; 楊娟玉; 盧世剛;

        關(guān)鍵詞:SiC納米線; 電解還原; 二氧化硅; 酚醛樹脂;

        機(jī)構(gòu): 京有色金屬研究總院;

        摘要: 采用納米SiO2和酚醛樹脂為原料制備酚醛樹脂裂解碳納米SiO2復(fù)合陰極(硅碳物質(zhì)的量的比為1∶1),直接電解PFC/SiO2復(fù)合陰極,在900℃熔融鹽CaCl2中,恒槽壓2.0 V下電解,制備出碳化硅納米線。采用場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、高分辨透射電子顯微鏡(HRTEM)及其附帶的能譜儀、X射線分析衍射儀(XRD)和拉曼光譜(Raman)對(duì)產(chǎn)物的組成、形貌、微觀結(jié)構(gòu)等進(jìn)行了表征。結(jié)果表明:碳化硅納米線呈立方晶體結(jié)構(gòu),其直徑為4~13 nm,長可達(dá)數(shù)微米;室溫下該納米線在415 nm和534 nm附近有寬的發(fā)光峰。最后,討論了碳化硅納米線的生成機(jī)制。

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