編號：NMJS04307
篇名：納米SiO_2-Ni核殼結(jié)構粒子的制備與性能表征
作者：魏智強； 吳永富； 劉立剛； 馮旺軍； 楊華； 張材榮；
關鍵詞：SiO2； 核殼結(jié)構； 納米復合顆粒； 微觀結(jié)構； 磁滯回線；
機構： 蘭州理工大學甘肅省有色金屬新材料省部共建國家重點實驗室； 蘭州理工大學理學院；
摘要： 以硅酸乙酯(TEOS)和納米鎳粉為主要原料,通過溶膠-凝膠法制備了SiO2包覆鎳核殼結(jié)構納米復合粒子。利用X射線衍射(XRD)、高分辨透射電鏡(HRTEM)和選區(qū)電子衍射(SAED)、X射線能量色散分析譜儀(EDS)和振動試樣磁強計(VSM)等測試手段對樣品的晶體結(jié)構、形貌、組成元素和磁學性能等特征進行了表征。結(jié)果表明:SiO2以非晶態(tài)的形式包覆在納米鎳粒子表面,形成了明顯的核殼結(jié)構,降低了納米粉體的團聚現(xiàn)象。顆粒大多呈球形或橢球形,粒徑分布在20～80 nm范圍,平均粒徑為30 nm,鎳粒子外碳層的厚度為4～6 nm。包覆后的粉體由于SiO2的存在,飽和磁化強度與剩磁比納米鎳粉降低,矯頑力升高。
