編號(hào)：NMJS03768
篇名：化學(xué)刻蝕兩步法制備硅納米線(英文)
作者：李常青； 周婷婷； 梅欣麗； 任晨星；
關(guān)鍵詞：硅納米線； 銀輔助化學(xué)刻蝕； 掃描電子顯微鏡； 光致發(fā)光；
機(jī)構(gòu)： 鄭州大學(xué)信息工程學(xué)院； 鄭州大學(xué)材料工程學(xué)院；
摘要： 采用化學(xué)刻蝕兩步法制備硅納米線。在制作過程的不同階段,通過金相顯微鏡,掃描電子顯微鏡及透射電子顯微鏡分別對(duì)其表面形態(tài)進(jìn)行觀察。結(jié)果表明,通過兩步法制作的硅納米線比傳統(tǒng)刻蝕方法制作的樣品具有更細(xì)的直徑。光致發(fā)光的測量結(jié)果表明,兩步法制備的硅納米線在可見光領(lǐng)域有較強(qiáng)的紅光發(fā)射。
