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        密度梯度離心分離法研究銀納米片邊緣晶面的反應(yīng)活性

        編號(hào):NMJS03487

        篇名:密度梯度離心分離法研究銀納米片邊緣晶面的反應(yīng)活性

        作者:張國(guó)新; 黃鳳琴; 羅亮; 孫曉明;

        關(guān)鍵詞:密度梯度離心; 納米銀片; 刻蝕反應(yīng); 晶面活性;

        機(jī)構(gòu): 北京化工大學(xué)理學(xué)院;

        摘要: 利用密度梯度法對(duì)納米銀片進(jìn)行離心分離,在分離過(guò)程中使用巰基乙醇對(duì)銀片進(jìn)行輕度刻蝕。用透射電鏡、紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)對(duì)分離后的各層樣品進(jìn)行表征,結(jié)果表明:不同尺寸的銀納米片的邊緣具有不同的反應(yīng)活性,不同晶面的晶區(qū)大小同樣影響銀納米片的反應(yīng)活性;在銀片邊長(zhǎng)為(135±5)nm時(shí)存在一個(gè)尺寸閾值,低于此尺寸閾值,銀片(110)晶面的反應(yīng)活性高于(100)晶面的活性,而高于此尺寸閾值,(100)晶面的活性高于(110)晶面的活性。

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