編號：NMJS03471
篇名：非對稱場流分離技術(shù)用于納米顆粒的表征
作者：劉攀攀； 全燦； 李紅梅； 金君素；
關(guān)鍵詞：非對稱場流分離； 掃描電鏡； 納米顆粒； 表征；
機構(gòu)： 北京化工大學化學工程學院； 中國計量科學研究院化學計量與分析科學研究所；
摘要： 采用非對稱場流分離技術(shù)(Asymmetrical flow field-flow fractionation,AF4)對標準聚苯乙烯顆粒粒徑進行表征。利用非對稱場流分離儀以0.1%SDS(十二烷基磺酸鈉)和0.02%NaN3的水溶液為流動相,測定標準的聚苯乙烯納米顆粒在流體流場作用下通過分離腔室的保留時間,以確定納米顆粒的平均粒徑。優(yōu)化了聚焦時間、橫向流速、進樣量、主體流速等實驗條件,建立了利用AF4準確表征納米顆粒的方法,并與掃描電鏡(Scanning electron microscope,SEM)的表征結(jié)果進行比較。結(jié)果表明,AF4的表征結(jié)果比SEM更接近于聚苯乙烯顆粒的標準粒徑,具有更高的穩(wěn)定性和準確度。本方法可作為納米粒徑表征的一種準確方法。
