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簡介： ScopeX PILOT臺式鍍層測厚儀采用下照式設計，搭載先進的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術(shù)，以及高敏變焦測距裝置，對不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，都能夠快速、精準、無損檢測，可輕松應對鍍層領(lǐng)域的表面處理的過程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗等環(huán)節(jié)中的檢測和篩檢難題，被廣泛應用于珠寶首飾、電鍍行業(yè)、汽車行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子半導體等多種領(lǐng)域。