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鉑瑞達(dá)（北京）科技有限公司 2022-11-15 點(diǎn)擊416次
隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，掃描電子顯微鏡被越來(lái)越多的應(yīng)用在不同的科研領(lǐng)域內(nèi)。EM科特CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡，采用高質(zhì)量的模塊組件與智能化的操控軟件，能夠滿足質(zhì)量生產(chǎn)和科學(xué)研究中的大部分微觀觀察、測(cè)量及分析需求。
EM科特（EmCrafts）CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡，是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，EM科特CUBE系列占地面積小，無(wú)需特殊安裝環(huán)境，高便攜性能使其可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。
EM科特CUBE系列臺(tái)式電鏡擁有8大技術(shù)特點(diǎn)，使用戶在測(cè)試樣品時(shí)既可保證圖像質(zhì)量，又能獲得更佳的體驗(yàn)。下面小編來(lái)為大家介紹一下它們。
1-30kV高性能電源
在掃描電鏡測(cè)試時(shí)，加速電壓的選擇對(duì)于圖像質(zhì)量有著顯著影響。較寬的電壓選擇可以從容面對(duì)不同的樣品測(cè)試。CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡搭載高性能的高壓電源，電壓范圍為1kV到30kV，每1kV電壓為一步進(jìn)，連續(xù)可調(diào)，可根據(jù)不同的樣品特性選擇不同的電壓進(jìn)行測(cè)試，解決您得使用煩惱。
如圖所示，在30kV的加速電壓下，二次電子分辨率能夠達(dá)到5nm，這對(duì)于大部分的材料形貌分析來(lái)說(shuō)已經(jīng)能夠從容面對(duì)。并且在觀察不到電樣品的時(shí)候，可以使用低加速電壓進(jìn)行觀察。
并且，為了能夠獲得更好的拍攝效果，可以針對(duì)不同的樣品進(jìn)行加速電壓的選擇以獲得最佳的圖像。
預(yù)對(duì)中燈絲
由于高能電子的產(chǎn)生原理，燈絲成為了消耗品。一般情況下燈絲燒斷后，需要操作人員調(diào)整燈絲和韋氏帽的高度，才能使電鏡達(dá)到測(cè)試要求。但是對(duì)于用戶來(lái)說(shuō)，調(diào)整燈絲是極為耗費(fèi)時(shí)間的，且操作人員還有可能因?yàn)檎{(diào)整技術(shù)及角度的問(wèn)題導(dǎo)致燈絲達(dá)不到理想測(cè)試要求，從而造成圖像像質(zhì)量差，無(wú)法觀測(cè)樣品。為了這一情況，提高用戶的使用體驗(yàn)，CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡在設(shè)計(jì)之初便采用了預(yù)對(duì)中的鎢燈絲。當(dāng)燈絲達(dá)到使用壽命后，只需要像插拔插座一樣，即可快速更換燈絲，無(wú)需進(jìn)行額外調(diào)整，方便快捷減少損耗。
SE和BSE探測(cè)器
CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡配備自主研發(fā)的高品質(zhì)二次電子探測(cè)器與背散射探測(cè)器，高品質(zhì)的探測(cè)器對(duì)樣品表面形貌十分敏感，可快速分析區(qū)分微區(qū)內(nèi)的成分和結(jié)構(gòu)。
CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡SE與BSE探測(cè)器，可選擇單通道/多通道，或是組合使用，多種方案的選擇確保用戶對(duì)樣品成像質(zhì)量的把控。
超大樣品室
對(duì)于測(cè)試人員來(lái)說(shuō)，越大的樣品室越易使用，CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡擁有超大樣品室，使得一些大尺寸樣品可以在不經(jīng)過(guò)處理的前提下直接放入樣品室，進(jìn)行分析測(cè)試。大大節(jié)約了前期樣品預(yù)處理的時(shí)間。
下圖為10cm長(zhǎng)的樣品，可以直接放入樣品室拍攝。
