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賽默飛世爾科技（中國(guó)）有限公司 2023-08-17 點(diǎn)擊1962次
Thermo ScientificTM ARL TM X’TRA Companion 高階常規(guī)分析型臺(tái)式XRD
ARL X'TRA Companion 是一款采用θ/θ掃描和Bragg-Brentano 光學(xué)幾何設(shè)計(jì)的臺(tái)式X 射線衍射儀。采用先進(jìn)的硬件配置和科技手段來(lái)確保其準(zhǔn)確性、精確性、安全性和易用性，這款儀器非常適合Rietveld 常規(guī)分析和質(zhì)量過(guò)程控制（QA/QC）。此外，該儀器配備了“一鍵（one-click）操作” 數(shù)據(jù)處理軟件，在實(shí)現(xiàn)操作簡(jiǎn)便的同時(shí)，還保證了測(cè)試結(jié)果的高度可靠性。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)和特征
1.安全可靠
ARLX' TRA Companion X 射線衍射儀的部件安裝在符合國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn)的X 射線的屏蔽艙中并配有防輻射鉛玻璃窗、工作狀態(tài)指示燈和安全聯(lián)鎖裝置。
2.堅(jiān)固耐用
針對(duì)所有可能的使用環(huán)境，ARLX TRA Companion 進(jìn)行了設(shè)計(jì)優(yōu)化，從而能夠有效地抵御外部沖擊或振動(dòng)的干擾。
3.性能出色
ARLX' TRA Companion 的0/0 測(cè)角儀使用超緊湊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，并采用帶光學(xué)編碼器的步進(jìn)電機(jī)，以確保極其精確的角度定位和重現(xiàn)性。
4.數(shù)據(jù)精準(zhǔn)
ARLX' TRA Companion 標(biāo)配 2 維半導(dǎo)體像素探測(cè)器，對(duì)位置、能量和時(shí)間具備高靈敏度采用經(jīng)典的信號(hào)探測(cè)模式，通過(guò)高速精準(zhǔn)的信號(hào)采集，確保了分析數(shù)據(jù)的高質(zhì)量。
5.靈活實(shí)用
ARLX TRA Companion 為所有類型的壓制樣品 (Polysius、Hertzog、其他壓制顆粒)，提供各種專用解決方案，以便完全滿足不同的分析要求，從而使得數(shù)據(jù)質(zhì)量得以提升優(yōu)化。
6.直觀清晰
ARLX TRA Companion 配備了一款可靠且易于使用的分析軟件，該軟件能夠快速便捷地提取數(shù)據(jù)信息，充分挖掘數(shù)據(jù)潛力。
7.技術(shù)聯(lián)用
ARL X' TRA Companion 的數(shù)據(jù)可以很便捷地與XRF 數(shù)據(jù)進(jìn)行結(jié)合分析，以獲得更好的分析解釋和結(jié)果的準(zhǔn)確性。
功能和附件
ARL X' TRA Companion 的設(shè)計(jì)是基于垂直θ/θ 掃描和Bragg Brentano 光學(xué)幾何，以便于樣品制備和樣品處理。 它是多晶材料XRD定性和定量分析的理想儀器。 ARL X' TRA Companion 的工作功率為600瓦（銅靶或鈷靶），并可提供集成水冷系統(tǒng)，使用機(jī)械狹縫、索拉狹縫和可變光束刀等技術(shù)來(lái)確保光束在徑向和軸向的準(zhǔn)直得到精確控制。
ARL X' TRA Companion 的模塊化設(shè)計(jì)允許用戶更換預(yù)先校準(zhǔn)的樣品臺(tái)，而無(wú)需冗長(zhǎng)的重新校準(zhǔn)程序。標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)集成了高精度控制裝置，可以精確地定位樣品臺(tái)相對(duì)于測(cè)角儀的平移和旋轉(zhuǎn)方向，這使得衍射儀可以在幾分鐘內(nèi)就能夠完成針對(duì)新樣品類型的重新設(shè)置。 ARL X' TRA Companion 采用先進(jìn)的固態(tài)像素探測(cè)器（55x55μm），可提供非常快速的高分辨率數(shù)據(jù)收集，并具有“一鍵操作（one-click）” Rietveld量化功能，并能將結(jié)果自動(dòng)傳輸?shù)絃IMS。
旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)
6 位進(jìn)樣器 ? 40 mm 或51.5mm版本
技術(shù)聯(lián)用
XRF和XRD，兩種互補(bǔ)的技術(shù)
X 射線熒光光譜儀（XRF）分析確定樣品的元素組成，但無(wú)法提供關(guān)于各種元素是如何結(jié)合在一起的信息。這種礦物學(xué)信息只能通過(guò)X射線衍射儀（XRD）獲得。在典型的晶體樣品中，XRF可以測(cè)量例如總Ca濃度或總Fe濃度。XRD允許分析晶體 材料如巖石、礦物和氧化物材料和產(chǎn)品中的物相或化合物。因此，針對(duì)同一樣品中，XRD 能夠進(jìn)行深入分析，以給出關(guān)于CaO、CaCO3 、Ca(OH)含量和其他Ca相或Fe 相的含量信息，例如FeO、Fe2 O3 、Fe3 O4 、Fe3 C和其他Fe相。因此，將XRF和XRD技術(shù)相結(jié)合，就可以對(duì)任何給定的結(jié)晶樣品進(jìn)行更好且更全面地表征。
ARL QUANT’X 多功能EDXRF
ARL OPTIM'X 緊湊型WDXRF
ARL PERFORM'X 頂級(jí)WDXRF
ARL 9900 XRF/XRD 一體機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
ARL X' TRA Companion 針對(duì)工業(yè)實(shí)驗(yàn)室和教學(xué)實(shí)驗(yàn)室的常規(guī)物相分析需求進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，從而為QC/QA以及教學(xué)應(yīng)用提供了經(jīng)濟(jì)高效的解決方案，包括水泥、鋰電、化工、高校等。
*如果您對(duì)產(chǎn)品感興趣，請(qǐng)?zhí)顚?xiě)問(wèn)卷，我們會(huì)安排銷售和您聯(lián)系。
ARL X’TRA Companion——物相分析的信賴之選
精、準(zhǔn)、快
?頂級(jí)固態(tài)像素探測(cè)器
?高通量物相分析檢測(cè)
?一鍵Rietveld 精修定
?優(yōu)異的角度分辨率（<0.04 °）