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        科普帖 | XRF技術(shù)如何助力土壤元素的精準(zhǔn)檢測?

        賽默飛世爾科技(中國)有限公司  2023-05-18  點擊2096次

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        X射線熒光(XRF)是一種常用的化學(xué)分析技術(shù),用于對環(huán)境空氣中的微粒和土壤與沉積物中的無機污染物進(jìn)行檢測。X射線和熒光這兩個詞對非科學(xué)家來說可能有些神秘,但可以簡單地進(jìn)行如下解釋。


        讓我們從“熒光”這個詞開始。大多數(shù)人從學(xué)校教室、工廠和商店里常見的熒光燈中知道這個詞?!盁晒狻钡暮唵我馑际禽椛涑龉饣蚱渌芰?。典型的熒光燈使用電力來激發(fā)氬和汞原子,使之產(chǎn)生白光輻射,而白熾燈產(chǎn)生電子作為光源。


        XRF儀器使用X射線來“激發(fā)”材料,以便通過識別樣品中的元素(定性分析)或通過測定樣品中某種元素的強度(定量分析)來表征其組成。


        X射線光譜學(xué)


        那么,“X射線”這個詞是怎么回事?


        我們提到X射線是XRF儀器中的激發(fā)源,但在我們的定義中,這不是它的主要目的。特征X射線是激發(fā)過程的副產(chǎn)品。為此,我們需要一點科學(xué)知識。X射線是電磁波譜的一個子集,而電磁波譜涵蓋了從無線電波到可見光,再到X射線及伽馬射線。所有材料都由原子組成,不同原子在元素周期表中表示為不同元素。


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        原子由亞原子粒子組成,包括:中子、質(zhì)子和電子。質(zhì)子和電子是帶電的,而中子是“中性的”。作為化學(xué)的真正主力,電子通過原子核的質(zhì)子電荷束縛在原子上。當(dāng)一個原子失去一個電子時,它會被電離,原子的電荷通常會吸引其他原子的原子核以形成化學(xué)鍵。大多數(shù)元素,特別是金屬,傾向于與氧結(jié)合并被氧化——比如鐵上的銹。它們可以與自身結(jié)合,形成一種元素材料,或者找到像鈉這樣的高活性原子進(jìn)行結(jié)合,從而造成各種破壞。在常見的化合物中,大多數(shù)元素與其他元素相處時表現(xiàn)穩(wěn)定。


        用特征X射線能量分類元素

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        我們?nèi)绾潍@得并分類特征X射線?

        電子在一系列殼層中圍繞原子核運行,這些殼層被標(biāo)記為K、L、M、N等。

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        當(dāng)內(nèi)殼層(低能級)因輻射失去一個電子,變得不平衡時,外殼層(高能級)中的電子會躍遷到內(nèi)殼層以保持穩(wěn)定。這個電子的躍遷過程會發(fā)射出在X射線范圍內(nèi)特定的能量。在你的儀器里放一個探測器來測量這些特征X射線能量,你就能知道你的材料里有什么元素啦。如果你看XRF的元素周期表,你就會發(fā)現(xiàn)一系列數(shù)字,這些數(shù)字代表了從外殼層到內(nèi)殼層的每一次躍遷的特征X射線的能量,不同的元素都具有唯一不同的數(shù)字組合。這些數(shù)字組合表示的能量都是以千電子伏特(Kev)來描述。


        解決沖突的光譜峰


        如果你看XRF元素周期表中各元素的特征X射線能量,你會注意到,當(dāng)超過元素鋅時,L殼層的數(shù)字與元素鈉的k殼層具有相近的能量,這種現(xiàn)象會一直在原子序數(shù)靠后的元素中反復(fù)上演。例如,鋇-L(4.467keV)幾乎與鈦-K(4.508keV)相同。地質(zhì)學(xué)家和農(nóng)學(xué)家觀察土壤中的礦物質(zhì),很可能會在他們的樣本中獲得大量難以分辨的L線能量。


        能量色散X射線熒光光譜法

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        能量色散XRF(EDXRF)儀器激發(fā)并檢測從氟到鈾的所有元素,提供具有表征材料特性的能量峰的能量譜。如果使用者對材料有一定的了解,他們可以調(diào)整不同的激發(fā)能量,以選擇更為特定的光譜范圍或使用濾光片組件來篩選出沖突的能量。XRF軟件還可以使用光譜擬合算法來幫助校準(zhǔn)儀器,以獲得更高的精度。

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        波長色散X射線熒光光譜法

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        但在某些情況下,重疊的能量根本無法在能量色散儀器中解析。為此,我們需要用到布拉格定律和專門的設(shè)備。布拉格定律描述了X射線如何穿過晶體中的平行原子平面。在樣品材料被激發(fā)后,產(chǎn)生的特征X射線被約束并以平行光的方式通過狹縫(準(zhǔn)直器)進(jìn)而通過晶體發(fā)生衍射現(xiàn)象,該晶體起到高靈敏度X射線過濾器的作用。在EDXRF中,具有鋇和鈦的樣品將顯示出約4.5keV能量的一個寬峰,掩蓋了兩種元素的存在,而WDXRF光譜儀則能夠顯示出來自這兩種元素的兩個不同的峰。

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        使用XRF分析空氣質(zhì)量和土壤/沉積物樣品


        X射線熒光是環(huán)境科學(xué)家和監(jiān)管機構(gòu)檢測空氣中的微粒和識別土壤和沉積物中的污染物的首選技術(shù)。由于該技術(shù)的非破壞性及其靈敏度,X射線熒光是分析與空氣監(jiān)測相關(guān)的樣品的備受青睞的方法。EDXRF僅需20分鐘就可以從收集環(huán)境可吸入顆粒物的過濾器中識別多達(dá)40種元素。由于對空氣濾膜進(jìn)行的是非破壞性分析,因此它們還可以被其他技術(shù)進(jìn)行更進(jìn)一步分析。


        我們的Thermo Scientific ARL Quant’X EDXRF光譜儀提供的最低檢出限在標(biāo)準(zhǔn)上優(yōu)于US EPA (美國環(huán)保署)Compendium Method IO-3.3中規(guī)定的可吸入顆粒物XRF分析的檢出限。


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        富含礦物質(zhì)的土壤和沉積物樣品的成分需要更為深入的精確分析。例如,鉛的能級為10.549keV,而砷的能級為10.532keV,兩者無法用EDXRF進(jìn)行分辨。由于其準(zhǔn)確度、精密度、寬濃度范圍(ppm至100%)和易用性,WDXRF是土壤和沉積物分析的常用技術(shù)。自動化技術(shù)被用于處理元素組成更復(fù)雜的高通量樣品。我們的Thermo Scientific ARL Perform’X WDXRF 光譜儀專為高通量環(huán)境實驗室而設(shè)計,最快每小時能夠處理60多個樣品,提供多達(dá)84種元素的快速精確分析。


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