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　　美國MAS(Mass Applied Sciences)公司是一家有著超過三十年歷史的專業(yè)公司，致力于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)與生產(chǎn)。MAS公司的納米粒度及Zeta電位分析儀，以其獨(dú)特的方法解決了傳統(tǒng)光學(xué)方法在納米顆粒檢測中存在的局限性，如樣品需要稀釋才能測試其粒徑和Zeta電位，以及對于復(fù)雜體系難以準(zhǔn)確給出粒度分布等問題。接下來和胤煌科技一起了解美國MAS多功能超聲法粒度分析儀產(chǎn)品介紹及主要特點(diǎn)。

　　產(chǎn)品系列

　　MAS公司提供的超聲法粒度及Zeta電位分析儀包括ZETA-APS、APS-100、ZetaFinder ZF400、ZetaAcoustic ZA500以及CHDF-3000/4000等型號。這些儀器能夠?yàn)獒t(yī)藥、化工、化妝品等多個行業(yè)提供全面的粒度和Zeta電位分析解決方案。

　　工作原理

　　超聲法系列粒度儀基于聲波技術(shù)工作。通過聲波發(fā)生器發(fā)射特定頻率和強(qiáng)度的超聲波，不同尺寸的顆粒會對聲波產(chǎn)生不同的吸收和散射效應(yīng)，進(jìn)而引起聲波的衰減。通過測量顆粒引起的聲衰減譜，可以推算出顆粒的粒度分布。

　　主要特點(diǎn)

　　多樣化的樣品適用性可分析包含多種分散物的混合體，適用于復(fù)雜樣品體系的研究。

　　獨(dú)立于雙層模式的等電點(diǎn)測定不依賴于Double Layer模式，能夠準(zhǔn)確地確定顆粒的等電點(diǎn)。

　　高導(dǎo)電性體系適應(yīng)性設(shè)備能夠適應(yīng)高導(dǎo)電性的體系，擴(kuò)展了應(yīng)用范圍。

　　雜質(zhì)排除能力設(shè)計考慮到了雜質(zhì)的影響，能夠在存在污染物的情況下仍能提供可靠的數(shù)據(jù)。

　　無水體系測量支持無水環(huán)境下的測量，滿足特殊樣品的測試需求。

　　多頻電聲測量技術(shù)使用多頻電聲測量技術(shù)，能夠在不預(yù)先測量粒度的情況下直接測定Zeta電位。

　　高濃度樣品直接測量樣品的濃度最高可達(dá)60%(體積比)，允許直接測量高濃度的膠體和乳液樣品，無需事先稀釋。

　　自動電位滴定功能集成了自動電位滴定功能，簡化了實(shí)驗(yàn)流程，提高了工作效率。

　　通過這些先進(jìn)的技術(shù)和功能，MAS多功能超聲法粒度分析儀為科研工作者提供了一種強(qiáng)大的工具，不僅能夠滿足常規(guī)的粒度和Zeta電位分析需求，還能夠處理更為復(fù)雜的樣品類型，為材料科學(xué)、藥學(xué)等領(lǐng)域的發(fā)展貢獻(xiàn)了力量。