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Zeta電位是液固分散體系中固體顆粒表面與液體的相互作用所引起的類似于帶電顆粒的電勢。電泳光散射法(ELS）是當前最流行的測量Zeta電位的方法。其原理是（見右圖）：在分散體系中插入兩根兩電極，當兩電極之間有電壓差時，就會在分散體系中形成電場，帶電顆粒將向與其極性相反的電極方向移動（電遷移）。

電泳光散射原理示意圖

激光束從右到左照射到顆粒上，移動顆粒所散射的光的頻率會發(fā)生變化，稱為“多普勒頻移”。再引進一束來自同一光源的參考光，讓散射光與參考光疊加，那么散射光的頻移就會表現(xiàn)為疊加光束的強度隨時間的周期性變化，即所謂的“差拍效應”。提取出差拍的頻率，就可計算出電遷移速度及Zeta電位。當前基于ELS原理測量Zeta電位的各種方法，都是圍繞如何提取電遷移數(shù)據(jù)展開的。

頻譜分析法(FFT)

首先對疊加光強進行自相關運算，以消除顆粒布朗運動的隨機干擾，再對自相關函數(shù)進行傅里葉變換(FFT)，得到功率譜函數(shù)，從而得到頻移信息。這種方法要求在一個測量周期內(nèi)，顆粒電遷移量要達到數(shù)個位相變化周期（參考附圖，以為一個相位周期），因此不適宜測量較小的電遷移。

位相分析法(Phase analytical light scattering，PALS)

直接分析顆粒電遷移造成的散射光的相位變化，理論上可以測量任意小的電遷移。傳統(tǒng)的PALS方法于1990年由J.F.Miller提出。該方法結(jié)合鎖相放大技術和其獨創(chuàng)的AWPD（振幅加權位相差）算法，從疊加光強信號中提取位相差與平均散射光強的乘積。在實際應用中，平均散射光強往往難以穩(wěn)定，導致Zeta電位的重復性誤差只能達到±10mV左右。

余弦擬合位相分析法（CF-PALS）原理示意圖

余弦擬合位相分析法(CF-PALS)

本方法由真理光學創(chuàng)新提出,其要點是：從疊加光強的自相關函數(shù)（隨機位相波動已自動消除）出發(fā)，通過算法提取其中的余弦變化因子，再用余弦函數(shù)模型，擬合出余弦頻率。與傳統(tǒng)的PALS方法一樣，理論上顆粒只要有遷移，不論遷移量多少，都會產(chǎn)生頻移或者位相差，都可被測量出來，但又避免了其他參數(shù)（如光強）的影響，使測量重復性顯著改善（優(yōu)于±2mV）。

真理光學團隊簡介

真理光學匯聚了以張福根博士為首的中國顆粒表征領域頂尖人才。

張福根博士為中國顆粒表征標準化技術委員會副主任委員、曾擔任中國顆粒學會副理事長，同時也是天津大學兼職教授和歐美克旗下多家公司的創(chuàng)始人。

此外，曾擔任知名英國儀器（中國）總經(jīng)理20余年的秦和義先生，中國顆粒學會青年理事潘林超博士后和陳進博士以及多位在顆粒學和粉體技術領域具有豐富經(jīng)驗和工作成就的精英人才均在公司就職。