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楊正紅總經(jīng)理連任顆粒表征標準化技術分委會委員
儀思奇北京科技發(fā)展有限公司 2023-08-17 點擊1292次
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2023年8月11日至13日，全國顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標委會顆粒分技術委員會（SAC/TC168/SC1）換屆大會暨年度工作會議在全國工業(yè)的一面旗幟——大慶油田有限責任公司勘探開發(fā)研究院舉行。
在此次會議上，楊正紅總經(jīng)理當選為第三屆顆粒分技術委員會（SAC/TC168/SC1）委員。在本次會議上，與會委員審查了國標《顆粒 粒度分析 彩色圖像法》英文版及《顆粒 質量一致性評價指南》等指導性技術文件。在國標新項目建議審查中，蔡小舒教授提出的《納米顆粒非球體度測量 偏振光散射法》引起了熱烈反響，大家一致認為這是納米及亞微米顆粒形狀測量的一個突破。
會議期間，還舉行了ISO/TC24/SC4 （篩分法以外的粒度分析方法）2023年10月秋季年會的預備工作會議。楊正紅總經(jīng)理作為ISO專家委員，將參加第一工作組（分析數(shù)據(jù)的表示，WG1）、第三工作組（孔徑分布和孔隙率，WG3）、第八工作組（圖像分析法，WG8）以及第十七工作組（zeta電位測定方法，WG17）的工作會議。
