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        瑞紳葆分析技術(shù)(上海)有限公司.
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        X熒光檢測(cè)包邊制樣中PE和硼酸對(duì)比

        瑞紳葆分析技術(shù)(上海)有限公司.  2017-10-23  點(diǎn)擊1172次

        需要增加粉末壓片法制樣簡(jiǎn)便、快速、成本低廉,適用于中、重元素的痕量分析和試樣種類(lèi)較為一致的、精度要求不苛刻的主、次、痕量元素的測(cè)定,X射線熒光光譜分析的常用制樣方法之一,特別適合大批量的固體粉末樣品分析(1)。是將經(jīng)過(guò)干燥或焙燒、研磨并混合均勻的粉末試樣放入專(zhuān)用模具中,用壓片機(jī)在一定的壓力下壓制成X射線熒光光譜分析用試樣片(2)。為便于保存和防止壓片邊沿?fù)p壞,從80年代起一直采用金屬環(huán)(或塑料環(huán))粉末制樣法,后逐漸被效率更高、污染風(fēng)險(xiǎn)更小的鑲邊墊底壓片法所取代(3),目前常用鑲邊墊底用的材料為硼酸和低密度聚乙烯(簡(jiǎn)稱(chēng)PE),下面是楊勇工程師(擁有多年X熒光樣品前處理設(shè)備使用維護(hù)經(jīng)驗(yàn))帶來(lái)的兩者實(shí)用對(duì)比。

        1.使用方法:

        硼酸及低密度聚乙烯所使用的模具及方法是完全一致的,二者之間可以互換,但是低密度聚乙烯可以直接壓制成杯(見(jiàn)下圖),直接用于制樣,提高制樣效率。

        2.應(yīng)用對(duì)比:

        表一


        硼酸

        低密度聚乙烯

        形狀

        白色粉末狀結(jié)晶或三斜軸面的鱗片狀帶光澤結(jié)晶。有滑膩手感,無(wú)臭味;

        無(wú)嗅、無(wú)味、無(wú)毒的白色顆粒或粉末

        熔點(diǎn)

        加熱至100~105時(shí)失去一分子水而形成偏硼酸,于104~160時(shí)長(zhǎng)時(shí)間加熱轉(zhuǎn)變?yōu)榻古鹚?,更高溫度則形成無(wú)水物;184(分解)

        131

        密度

        1.4347 g/cm3

        0.910-0.925g/cm3

        軟化點(diǎn)

        無(wú)數(shù)據(jù)

        120-125

        脆化溫度

        無(wú)數(shù)據(jù)

        -70

        特性

        溶于水、酒精、甘油、醚類(lèi)及香精油  

        耐熱、耐寒、耐磨性及介電性、化學(xué)穩(wěn)定性。

        其他

        水蒸氣揮發(fā),有刺激性,有毒,內(nèi)服嚴(yán)重時(shí)導(dǎo)致死亡

        吸水性和水蒸氣滲透性均低,但耐老化性能較差。

         

        由于硼酸和低密度聚乙烯的物性上差別很大(見(jiàn)表一),導(dǎo)致二者制樣時(shí)差別明顯:

        1)低壓聚乙烯化學(xué)穩(wěn)定性好,可以預(yù)制成乙烯杯,在制樣過(guò)程中可以省掉用漏斗加樣的步驟,縮短制樣時(shí)間提高壓樣效率; 硼酸宜揮發(fā)同時(shí)又有一定的水溶性,不利于長(zhǎng)期保存。


        2)低壓聚乙烯的粒度相對(duì)硼酸較大,在使用過(guò)程中污染模具幾率更小。

        3硼酸有揮發(fā)性,在熱效應(yīng)(X射線照射到樣品上產(chǎn)生)的影響下長(zhǎng)時(shí)間使用會(huì)導(dǎo)致熒光的真空度降低,同時(shí)減少光管的使用壽命;而使用低壓聚乙烯降低了儀器的污染風(fēng)險(xiǎn)。

        4)低壓聚乙烯粉末在制樣完成之后樣品最外圈會(huì)出現(xiàn)飛邊現(xiàn)象(在測(cè)量之前去掉飛邊之后才能測(cè)量);而剛性的硼酸則不會(huì)。


        5)硼酸的剛性導(dǎo)致高壓制樣時(shí)容易崩出,而聚乙烯則不會(huì)。


        3.總結(jié):

        綜上所敘,在X射線熒光光譜儀的粉末壓片法制樣當(dāng)中使用二者有以下優(yōu)缺點(diǎn):


        硼酸

        低密度聚乙烯

        優(yōu)點(diǎn)

        剛性比較高,制出來(lái)的樣品只要用洗耳球吹去樣品表面的殘留粉末就可以直接測(cè)量。

        穩(wěn)定性好,遇熱不揮發(fā),降低儀器污染風(fēng)險(xiǎn);預(yù)制成低壓聚乙烯杯可以大大提高制樣效率。

        缺點(diǎn)

        在測(cè)量過(guò)程中因?yàn)?/span>X射線的熱效應(yīng)硼酸會(huì)出現(xiàn)揮發(fā),減少X光管的使用壽命,增加儀器污染風(fēng)險(xiǎn),且不易長(zhǎng)期保存

        在制樣過(guò)程中容易出現(xiàn)樣品外表面出現(xiàn)飛邊顯現(xiàn),測(cè)量前需要手動(dòng)清理

        經(jīng)過(guò)比較,我們認(rèn)為低密度聚乙烯作為鑲邊墊底用的試劑的優(yōu)勢(shì)非常明顯,可以完全替換硼酸。

         

        楊勇簡(jiǎn)介:

        楊勇,男,漢族,畢業(yè)于:西安建筑科技大學(xué),專(zhuān)業(yè):應(yīng)用化學(xué)。

        2013.7-2015.2,,新疆阿勒泰金昊鐵業(yè),從事X熒光的應(yīng)用測(cè)試。

        2015.3-今,從事X熒光樣品前處理設(shè)備的售后以及培訓(xùn)用戶(hù)。

        擁有常年的X熒光樣品前處理設(shè)備壓片機(jī)的使用經(jīng)驗(yàn),以及各類(lèi)樣品的制樣經(jīng)驗(yàn)。

         

        參考文獻(xiàn):

        1.王毅民. X熒光分析地質(zhì)樣品時(shí)的制樣方法[J]. 巖礦測(cè)試, 1988(1):79-82.

        2.劉尚華, 陶光儀, 吉昂. X射線熒光光譜分析中的粉末壓片制樣法[J]. 光譜實(shí)驗(yàn)室, 1998, 6(6):9-15

        3.田雨. 硼酸墊底壓片法在X熒光光譜分析中的應(yīng)用[J]. 中國(guó)石油和化工標(biāo)準(zhǔn)與質(zhì)量, 2012, 32(7):26-27.


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