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澳譜儀器攜科研級納米粒度儀OP-90S參加IPB2016上海粉體展
淄博澳譜儀器有限公司 2016-11-24 點擊5725次
淄博澳譜儀器有限公司 2016-11-24 點擊5725次
2016年10月19-21日，淄博澳譜儀器攜帶科研級納米粒度儀OP-90S亮相第十四屆中國國際粉體加工/散料輸送展覽會(IPB2016)。
OP-90S科研級納米粒度儀基于光子相關(guān)光譜技術(shù)，以本公司最新專利技術(shù)研制的大動態(tài)范圍高速光子相關(guān)器為核心器件，采用本公司在顆粒粒度反演算法上的最新研究成果，因此具有準確度高、重復(fù)性好的特點，是測量亞微米及納米顆粒粒度的最佳選擇。該設(shè)備能夠輸出散射光強和相關(guān)函數(shù)數(shù)據(jù)，并提供軟件二次開發(fā)功能，助力科學(xué)研究。
參會期間，公司總經(jīng)理接受粉體網(wǎng)獨家專訪，就公司的發(fā)展理念，經(jīng)營思路進行了深入闡述，對公司的發(fā)展前景充滿信心。