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大昌華嘉參加IPB2014，現(xiàn)場展示麥奇克激光粒度儀

麥奇克/Microtrac 2014-10-17 | 閱讀：1951

IPB 2014 第十二屆中國國際粉體加工/散料輸送展覽會于2014年10月14-16日在上海國際展覽中心舉行。大昌華嘉DKSH展臺位于A區(qū)1108號，公司展出包括美國Microtrac、BEL、英國Freeman品牌有關于粉體研究的粉體粒度系列產品。

美國Microtrac S3500系列激光粒度分析儀，原理上采用經典靜態(tài)光散射技術和全程米氏理論處理，利用現(xiàn)代模塊式設計理念，使用獲得專利的三激光光源技術，配備超大角度雙鏡頭檢測系統(tǒng)，以對數(shù)方式排列151個高靈敏度檢測單元，無需掃描，平行通道實時接受散射光信息，提供準確可靠的測量信息。多種分散方式可選，干法與濕法測量之間的轉換，系統(tǒng)自動識別，方便快捷。S3500系列儀器完全符合ISO 13320-1粒度分析－激光衍射方法的技術標準及21 CFR PART 11 安全要求，并被榮幸地指定為NIST標準物質認證儀器。

    Nanotrac Wave 納米粒度儀主要技術特點：
•  采用最新的動態(tài)光散射技術，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法
•  專利的異相多譜勒頻移技術，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結果的可靠性。
•  專利的可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度。
•  超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
•  專利的快速傅利葉變換算法（FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間。
•  消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度

BEL公司Mini-II 比表面及孔隙分析儀是一款采用容量法測定樣品吸附特性的比表面和孔隙度分析儀，該儀器設計緊湊，分析精度高，操作簡便，能夠測定樣品比表面積和孔徑分布，配備三個樣品測量通道，每一個通道都具有獨立的壓力傳感器，能夠同時測定三個樣品。在分析站，儀器歧管系統(tǒng)和飽和蒸汽壓測定都具備單獨的壓力傳感器，這樣能夠保證樣品測定的時候，實時測定樣品的飽和蒸汽壓。