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精微高博獲物性測試和光學(xué)儀器類“2010科學(xué)儀器優(yōu)秀新產(chǎn)品”獎
北京精微高博比表面測試儀 2011-04-28 點(diǎn)擊2769次
北京精微高博比表面測試儀 2011-04-28 點(diǎn)擊2769次
2011年4月26日，由中國儀器儀表行業(yè)協(xié)會、中國儀器儀表學(xué)會分析儀器分會、儀器信息網(wǎng)聯(lián)合主辦，中國分析測試協(xié)會協(xié)辦的中國科學(xué)儀器行業(yè)目前最高級別的峰會——“2011中國科學(xué)儀器發(fā)展年會(ACCSI 2011) ” 在北京京儀大酒店隆重召開。年會主辦方在大會現(xiàn)場對“2010中國科學(xué)儀器優(yōu)秀新產(chǎn)品”舉行了隆重的頒獎儀式。精微高博獲物性測試和光學(xué)儀器類“2010科學(xué)儀器優(yōu)秀新產(chǎn)品”獎，表明精微高博的高性能比表面及孔徑分析儀得到國內(nèi)權(quán)威機(jī)構(gòu)的普遍認(rèn)可，達(dá)到了國內(nèi)領(lǐng)先水平。
