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?流動(dòng)性指數(shù) : 流動(dòng)性指數(shù)是將安息角、壓縮度、平板角、均齊度、凝集度等項(xiàng)指數(shù)的加權(quán)求和得到了一組數(shù)值，用來(lái)綜合評(píng)價(jià)粉體的流動(dòng)性。流動(dòng)性指數(shù)主要用來(lái)描述粉體在重力作用下自然流淌特性的強(qiáng)弱，指數(shù)的范圍是0-100。 流動(dòng)性指數(shù)：

?堆積密度：堆積密度是松裝密度（也稱疏充填堆積密度）和振實(shí)密度（也稱密充填堆積密度）的統(tǒng)稱。松裝密度：顆粒在規(guī)定的自然裝填條件下單位體積的質(zhì)量稱為松裝密度。這時(shí)的體積就是顆粒體積 + 顆粒上的開(kāi)孔和閉孔體積 + 自然狀態(tài)下顆粒間空隙體積。松裝密度的別稱很多，有松堆密度、疏充填堆積密度、松密度、松散堆積

?對(duì)粒度進(jìn)行檢測(cè)分析的方法有很多，最常用到的兩大類測(cè)量方法——圖像法與激光衍射法，其中圖像法包括電鏡法和顯微圖像法兩種形式。這兩類方法的測(cè)量結(jié)果通常會(huì)有差異，原因有以下三個(gè)方面：一． 原理不同導(dǎo)致的結(jié)果不同假定有3個(gè)直徑分別為1,2,3的球體顆粒，不同測(cè)量原理的儀器將會(huì)采用不同的方法來(lái)計(jì)算平均粒徑。

?密度：是指材料在絕對(duì)密實(shí)狀態(tài)下單位體積的質(zhì)量，也叫真密度（truedensity）。對(duì)粉體而言，由于在測(cè)量真密度時(shí)無(wú)法去除顆粒內(nèi)部的閉孔，也就是說(shuō)無(wú)法使顆粒呈絕對(duì)密實(shí)狀態(tài)，所以通常所說(shuō)的顆粒的真密度是指表觀密度。表觀密度：顆粒的質(zhì)量與表觀體積之比。表觀體積是指顆粒體積 + 顆粒的閉口孔隙體積，即顆粒

?內(nèi)摩擦角表示粉體內(nèi)部顆粒層間的摩擦特性，粉體內(nèi)部任一點(diǎn)會(huì)承受四周顆粒的作用致使顆?；瑒?dòng)形成相互之間的摩擦。摩擦角有以下幾種測(cè)量方法：（1）倉(cāng)流試驗(yàn)法（bin-flowtest）：在料倉(cāng)底部開(kāi)有小孔，倉(cāng)內(nèi)粉體通過(guò)該孔自由降落，顆粒移動(dòng)面與水平面的夾角，即為該粉體的內(nèi)摩擦角。（2）圓棒張力實(shí)驗(yàn)法（rod

?根據(jù) GB1482 或 ISO4490，金屬粉體流動(dòng)性通常用霍爾流速計(jì)來(lái)測(cè)量。測(cè)量過(guò)程是稱量 50g±0.1g 樣品，用手指堵住漏斗小孔，將樣品倒入漏斗，在快速移開(kāi)堵小孔的手指同時(shí)啟動(dòng)秒表（精度 0.2s）計(jì)時(shí)，直到粉樣流盡時(shí)刻立即停止計(jì)時(shí)，通過(guò) 50g 粉體流過(guò)小孔的時(shí)間的長(zhǎng)短來(lái)評(píng)價(jià)金屬粉體的流動(dòng)

? 測(cè)量安息角有兩種方法，一種是注入角法，指從某一高度粉體注入到大的平板上所形成的錐體斜面的角度。另一種是排出角法，指將粉體注入到較小直徑的圓板上后當(dāng)粉體堆積到圓板的邊緣時(shí)，粉體開(kāi)始從邊緣排出，此時(shí)圓板上粉體形成的堆積角為排出角。由于排除角法體積較小，操作簡(jiǎn)便，因此實(shí)際測(cè)量安息角時(shí)常用排除角法。

?利用汞對(duì)固體表面的不浸潤(rùn)特性，將汞壓入多孔材料的空隙中，根據(jù)汞壓入空隙內(nèi)的總壓力與孔徑成反比的關(guān)系，求得多孔材料孔徑分布及其特性的方法。壓汞法是測(cè)量中孔和大孔孔徑分布的一種方法。目前所用壓汞儀使用壓力最大約200MPa，適合測(cè)量孔徑范圍在0.0064-950μ ｍ的材料。也常用壓汞儀來(lái)檢測(cè)混凝土、砂

?氣體吸附法是在恒溫條件下，通過(guò)測(cè)定樣品在一系列分壓下對(duì)背吸附氣體的飽和吸附量獲得吸附—脫附等溫線，以求得樣品比表面積孔徑分布的方法。求得樣品比表面和孔徑分布的理論基礎(chǔ)是BTE理論，也叫多孔物質(zhì)的多分支層吸附理論，它是建立在 Langmuir 方程之上并對(duì)其修正的一種方法，是計(jì)算比表面的普遍理論。

?本系統(tǒng)包括帶自動(dòng)載物臺(tái)和自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)的金相顯微鏡、控制系統(tǒng)、高分辨率CCD 和軟件系統(tǒng)四部分組成。與普通的靜態(tài)圖像粒度粒形分析系統(tǒng)不同的是，本系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)拍攝和圖像還原，其過(guò)程是自動(dòng)載物臺(tái)在控制系統(tǒng)的控制下能一小步一小步地移動(dòng)，每移動(dòng)一步顯微鏡就拍攝一幅圖像，自動(dòng)載物臺(tái)能連續(xù)一行一行地掃描，CCD

?鞘流技術(shù)也叫液體聚焦技術(shù)，它是通過(guò)在樣品流的四周包圍一層流速更高的鞘液流，來(lái)約束樣品流中的顆粒不發(fā)散，使它們沿著近似直線的路徑流動(dòng)，如果將這個(gè)近似直線的樣品流設(shè)置在鏡頭的焦平面上，則所有顆粒都將在焦平面上通過(guò)鏡頭，顆粒圖像將很清晰，保證了圖像粒度粒形分析的準(zhǔn)確性。如果不采用這種技術(shù)，由于顆粒發(fā)散產(chǎn)生

?通過(guò)對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒投影所包含的像素?cái)?shù)量的統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出每個(gè)顆粒的等圓面積，從而得到顆粒的等圓面積直徑，進(jìn)而得到粒度分布，還能通過(guò)長(zhǎng)徑，短徑計(jì)算出長(zhǎng)徑比和球形度等粒形參數(shù)。圖像顆粒分析系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD 攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。它是將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代

?電阻法（庫(kù)爾特）顆粒計(jì)數(shù)器粒度測(cè)量原理是小孔電阻原理，如圖所示。小孔管浸泡在電解液中，小孔管內(nèi)外各有一個(gè)電極，電流通過(guò)孔管壁上的小圓孔從陽(yáng)極流到陰極。小孔管內(nèi)部處于負(fù)壓狀態(tài)，因此管外的液體將流動(dòng)到管內(nèi)。測(cè)量時(shí)將顆粒分散到液體中，顆粒就跟著液體一起流動(dòng)。當(dāng)其經(jīng)過(guò)小孔時(shí)，小孔的橫截面積變小，兩電極之間的

? 分散在液體（特別是水）中的顆粒對(duì)液體中離子有選擇性吸附作用，加上固液兩相對(duì)電子的親和性不同，往往致使顆粒表面帶電。帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號(hào)的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合，構(gòu)成固定吸附層，或稱 Stern 層，另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴(kuò)散兩種相

?沉降法是通過(guò)測(cè)量顆粒在液體中的沉降速度來(lái)反映粉體粒度分布的一種方法。在液體中大顆粒沉降速度快，小顆粒沉降速度慢。沉降速度與粒徑的數(shù)量關(guān)系我們可以從下面的 Stokes 定律的數(shù)學(xué)表達(dá)式得到：從上式可以看到，顆粒的沉降速度與粒徑的平方成正比，可見(jiàn)在重力沉降中顆粒越大沉降速度越快。比如在相同條件下，兩個(gè)

?在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射法粒度測(cè)試中，為了避免復(fù)散射 (Multiple scattering) 現(xiàn)象，需要盡量降低樣品的濃度，有時(shí)甚至看上去都是澄清透明的。而實(shí)際上大多數(shù)膠體產(chǎn)品原樣的濃度都在5%以上，外觀是渾濁的。對(duì)這樣的樣品，用傳統(tǒng)光子相關(guān)光譜法分析前要做高倍率的稀釋，這既不便于使用，又可能會(huì)破壞膠

?動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light ScatteringDLS)， 也稱光子相關(guān)光譜（PhotonCorrelation Spectroscopy PCS) 法，是一種常規(guī)的納米粒度表征方法，具有準(zhǔn)確、快速、可重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)。隨著儀器的更新和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在的動(dòng)態(tài)光散射儀器不僅具備測(cè)量粒

?振實(shí)密度是將裝有粉末或顆粒的刻度量筒固定在機(jī)械振動(dòng)裝置上，振動(dòng)電機(jī)帶動(dòng)機(jī)械振動(dòng)裝置垂直上下振動(dòng)，裝有粉或顆粒的刻度量筒隨機(jī)械振動(dòng)裝置而發(fā)生有節(jié)拍的振動(dòng)，隨著振動(dòng)次數(shù)的增加，刻度量筒里的粉末或顆粒逐漸振實(shí)，振動(dòng)次數(shù)達(dá)到設(shè)定的次數(shù)后，機(jī)械振動(dòng)裝置停止振動(dòng)，讀出刻度量筒的體積，根據(jù)密度的定義：質(zhì)量除以體積

?由激光器發(fā)出的一束激光，經(jīng)濾波、擴(kuò)束、準(zhǔn)值后變成一束平行光，在該平行光束沒(méi)有照射到顆粒的情況下，光束穿過(guò)富氏透鏡后在焦平面上匯聚形成一個(gè)很小很亮的光點(diǎn)——焦點(diǎn)，如下圖所示：當(dāng)樣品通過(guò)分散系統(tǒng)均勻送到平行光束中時(shí)，顆粒將使激光將發(fā)生散射現(xiàn)象，一部分光向與光軸成一定的角度向外散射，如下圖所示。理論與實(shí)踐

? 釹鐵硼顆粒帶有較強(qiáng)的磁性，極易團(tuán)聚，因此不能用濕法測(cè)試。而干法是通過(guò)高速氣流瞬間分散，可以克服磁性引起的團(tuán)聚，因此干法激光粒度儀成為測(cè)量釹鐵硼的粒度分布的典型方法。但是由于釹鐵硼粉在空氣中具有自燃性，就是暴露在空氣中的釹鐵硼粉在環(huán)境溫度稍高時(shí)就會(huì)自燃，因此常常會(huì)燒毀吸塵器管路和濾網(wǎng)，使粒度測(cè)試

?在粒度測(cè)試過(guò)程中，有時(shí)會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常的情況，如重復(fù)性不好、同一個(gè)樣品結(jié)果與之前有差異等。這樣的情況一般是由以下幾個(gè)原因造成的。1、環(huán)境異常：粒度儀的使用環(huán)境應(yīng)該滿足以下條件，一是室溫在10℃~30℃之間，并且介質(zhì)溫度要與室溫相同或相近，若介質(zhì)與室溫溫相差過(guò)大會(huì)導(dǎo)致樣品池結(jié)霧而影響測(cè)試結(jié)果。二是實(shí)驗(yàn)臺(tái)

?影響激光粒度儀分辨力的因素很多：（1）光電探測(cè)器數(shù)量，數(shù)量越多分辨力越高。（2）反演算法的優(yōu)劣，好的反演算法分辨力高。（3）分布模型，多峰模型分辨力高，單峰模型分辨力低。（4）富氏鏡頭，相差小的富氏鏡頭分辨力高，相差大的富氏鏡頭分辨力低。

? 分辨力的定義是能被激光粒度儀有效辨別的兩個(gè)樣品的最小差值。分辨力是和重復(fù)性、準(zhǔn)確性同等重要的指標(biāo)，是衡量一臺(tái)激光粒度儀性能高低的主要指標(biāo)。由于目前沒(méi)有評(píng)價(jià)激光粒度儀分辨力的標(biāo)準(zhǔn)樣品，因此要定量評(píng)價(jià)激光粒度儀分辨力有困難。但用戶可以通過(guò)簡(jiǎn)單的方法定性評(píng)價(jià)你所用的激光粒度儀的分辨力。用兩種標(biāo)稱值差

?在測(cè)試過(guò)程中通常用遮光率這個(gè)相對(duì)值來(lái)表征懸浮液的濃度的， 遮光率的大小是由懸浮液中的顆粒個(gè)數(shù)決定的——懸浮液中顆粒數(shù)越多，散射光越強(qiáng)，遮光率越高；懸浮液中的顆粒數(shù)越少，散射光越弱，遮光率越低。為了達(dá)到一定的遮光率，對(duì)粒度越粗的樣品所需的顆粒數(shù)量就多；對(duì)粒度越細(xì)的樣品，只要很少一點(diǎn)樣品顆粒數(shù)就很多，因

? 超細(xì)化、納米化是現(xiàn)代粉體材料研究和生產(chǎn)的趨勢(shì)，為滿足對(duì)這些材料的精確粒度分析，激光粒度儀的測(cè)量范圍也向超細(xì)化、納米化方向發(fā)展，所以現(xiàn)代高性能的激光粒度儀的測(cè)量下限已經(jīng)達(dá)到 20nm 甚至 10nm，而樣品折射率（包括吸收率）是 Mie 散射精確求解的一個(gè)重要條件，如果折射率錯(cuò)誤，將導(dǎo)致粒度測(cè)試

? 光在真空中的速度與光在其它材料中的速度的比值叫做折射率。樣品的折射率越高，表明入射光發(fā)生折射的能力就越強(qiáng)。吸收率是指光照射到顆粒上熱輻射能被吸收的量與投射到顆粒上的總熱輻射能量之比。在激光粒度分析軟件系統(tǒng)中，折射率是用復(fù)數(shù)表達(dá)表示，它的實(shí)部是實(shí)際折射率，虛部就是吸收率?，F(xiàn)代激光粒度儀的軟件系統(tǒng)

? 一般由兩種方法，一是采取多次取樣法，即用小勺少量多次加樣，每加一次樣觀察一下遮光率的變化，當(dāng)達(dá)到預(yù)設(shè)值時(shí)就停止加樣進(jìn)入分散和測(cè)試階段。二是采用定量取樣法，即對(duì)同一規(guī)格的粉體樣品，先實(shí)驗(yàn)確定在最佳遮光率時(shí)所需要的樣品量，以后每次測(cè)試時(shí)都用天平稱量相同量的樣品并全部加入到儀器中測(cè)試，就可以一次達(dá)到

? 遮光率是指被顆粒散射和吸收掉的光占光總量的百分比，是激光粒度測(cè)試中用來(lái)表示懸浮液光學(xué)濃度的一個(gè)量。遮光率的計(jì)算方法是原始光強(qiáng) I0 與加入樣品后探測(cè)器中心點(diǎn)的光強(qiáng) Ii 的差除以 I0 再乘以 100% 得到，即遮光率 =（I0-Ii）/I0×100%。一般遮光率的范圍在 10±5 之間。在實(shí)

? 粒度分布測(cè)量中所顯示的“濃度”一般是所接收的光信號(hào)的大小，是與顆粒數(shù)目有關(guān)的量，一般稱光學(xué)濃度而不是百分比濃度。對(duì)激光法來(lái)說(shuō)，懸浮液中顆粒數(shù)越多，光學(xué)濃度越大（但如果顆粒太多，光被超量遮擋，光學(xué)濃度反而減小）；對(duì)沉降法來(lái)說(shuō)，懸浮液中顆粒數(shù) 越多，光學(xué)濃度越小。

? 激光粒度儀測(cè)量粒度的原理是米氏散射理論。米氏散射理論用數(shù)學(xué)語(yǔ)言精確描述折射率為 n、吸收率為 m、粒徑為 d 的球形顆粒，在波長(zhǎng)為 λ 的激光照射下，散射光強(qiáng)度隨散射角 θ 變化的空間分布函數(shù)，此函數(shù)也稱為散射譜。根據(jù)米氏散射理論，大顆粒的前向散射光很強(qiáng)而后向散射很弱；小顆粒的前向散射光弱而后