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        北京精微高博將參展第七屆世界顆粒大會

        北京精微高博將參展第七屆世界顆粒大會
        精微高博  2014-05-08  |  閱讀:1646

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        2014年5月19日,每四年一次的顆粒檢測領域的行業(yè)盛會--第七屆世界顆粒大會(WCPT-7)將在北京國際會議中心拉開帷幕。本次大會由中國顆粒學會、中科院過程工程研究所承辦,中科院副院長、中國顆粒學會理事長李靜海院士擔任會議主席。預計本次會議的參會代表將達1000多人。
        北京精微高博科學技術有限公司將屆時參展,現(xiàn)場展示我公司最受客戶歡迎的精密國產(chǎn)好儀器:研究級比表面及孔徑測試儀(型號:JW-BK200B)、全自動真密度儀(型號:JW-M100)等物性測試儀器,誠邀廣大從事顆粒學和顆粒技術研究與開發(fā)的專家學者、工程技術人員蒞臨現(xiàn)場參觀!
        精微高博(JWGB)展位號:32
        會議時間:2014年5月19日—21日
        會議地址:北京國家會議中心(北京市朝陽區(qū)天辰東路7號)
        欲了解更多詳情,請致電010-63326034 68949825 68949817
         
        北京精微高博科學技術有限公司市場部 

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