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            馬爾文帕納科
            Malvern Panalytical

            馬爾文帕納科

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            【熱點應(yīng)用】使用XRF分析鎳鈷錳正極材料及其前驅(qū)體的元素成分

            【熱點應(yīng)用】使用XRF分析鎳鈷錳正極材料及其前驅(qū)體的元素成分
            馬爾文帕納科  2024-10-25  |  閱讀:1357

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            本文摘要正極材料的化學(xué)組成對電池的性能起著關(guān)鍵作用,在正極材料元素成分分析中,XRF技術(shù)與ICP和其他分析技術(shù)相比,具有更簡單、更快速,且具備高精度和準確度高等特點。本文將介紹馬爾文帕納科Zetium XRF分析Li-NCM正極材料的實驗過程及結(jié)果驗證。


            在各種類型的鋰離子電池中,鋰鎳錳鈷氧化物(Li-NCM)電池由于其高能量密度、優(yōu)異的穩(wěn)定性和成規(guī)模的應(yīng)用而成為突出的選擇。Li-NCM正極材料的化學(xué)組成在決定其性能方面起著關(guān)鍵作用,因此對這些材料進行準確的元素分析對于電池開發(fā)和生產(chǎn)至關(guān)重要。


            元素成分分析技術(shù)有很多種,其中ICP和XRF是最重要的兩種分析技術(shù)。將X射線熒光(XRF)光譜法與電感耦合等離子體(ICP)光譜法等其他元素分析技術(shù)進行比較,XRF光譜儀能夠更簡單、更快速地進行分析,同時提供高精度和準確度的高質(zhì)量結(jié)果。這使得XRF成為電池正極材料及其前驅(qū)體生產(chǎn)以及回收過程中進行過程和質(zhì)量控制的實用解決方案。 


            01丨馬爾文帕納科NCM標準樣品

            使用XRF分析元素組成有兩種常用的方式。第一種是在未校準的情況下的半定量測算。這種方法簡單高效,但是如果需要進行高精度的過程控制并獲取高度準確的結(jié)果,需要在分析樣品之前使用標準樣品對光譜儀進行校準。在后一種情況下,XRF結(jié)果的準確性依賴于高質(zhì)量校準材料的可用性,但是目前由于新能源的高速發(fā)展商用校準標物難以獲得。


            為此,馬爾文帕納科設(shè)計并生產(chǎn)了一套用于XRF校準的鎳鈷錳(NCM)認證參考物質(zhì)(CRM),并利用我們的樣品制備系統(tǒng)和專業(yè)知識,可為NCM正極材料提供高度準確和可靠的結(jié)果。這一套NCM標準物質(zhì)包包含12個標準樣品,可以被用于制備XRF熔融片校準樣品。


            配套的軟件包還包括熔融用配方和XRF應(yīng)用方法模板。標準樣品由純化學(xué)品制成,采用重量法進行計量溯源并符合ISO 17034。NCM標樣套裝的元素組成以及相應(yīng)的最小和最大濃度見表1。


            這一套NCM標準樣品套裝也適用于鋰鎳鈷鋁氧化物、鋰鈷氧化物和鋰錳氧化物及其前體等正極材料的XRF分析。為獲得較高的準確度和重復(fù)性,建議采用熔融制樣法。同時,建立好的標準方法也可以用于獲得壓片分析的二級校準標準品。


            表1 NCM標準樣品套裝的濃度范圍


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            * 鋰或氧化鋰不能直接用XRF儀器測量,但它們被添加到組合物中以模擬電池陰極混合物。 

            ** 報告的濃度范圍下限不是校準的最低濃度,  而是方法的定量限(LOQ)。LOQ取決于樣品制備、XRF儀器、測量條件和測量時間。  各目標元素的LOQ值可以在校準方法中找到。通常,表1中所列元素的LOQ值在50 - 300 ppm的范圍內(nèi)。


            02丨配置與測量條件

            在本應(yīng)用報告中,馬爾文帕納科生產(chǎn)的 Eagon 2熔樣機和Zetium光譜儀分別用于熔融樣品制備和XRF測量。簡單配置和條件設(shè)置如下:


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            1樣品制備

            采用硼酸鋰熔融技術(shù)將校準標準品和驗證CRM樣品制備為32mm的熔融片。一套完整的樣品熔融循環(huán)的總時間約為30分鐘。類似的熔融配方也同樣可以被用于LeNeo或FORJ全自動熔樣機。


            2測量條件

            在樣品測量階段,一個樣本的標準測量時間約為8分鐘,程序涵蓋了NCM材料中8種組分的分析。  成品正極材料中的氧化鋰不能通過XRF技術(shù)直接測量,但可以通過其他組分的分析來進行鋰組分的預(yù)期值估算。


            03丨校準結(jié)果

            Co、Mn、Ni和S的校準示例如圖1 - 4所示。  其RMS和K系數(shù)值總結(jié)見表3。校準的可靠度由RMS(絕對誤差)和K系數(shù)(加權(quán)誤差)值進行評估。  RMS和K系數(shù)值越低,校準效果越好。


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            圖1 Co組分的校準曲線


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            圖2 Mn組分的校準曲線


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            圖3  Ni組分的校準曲線


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            圖4 SO3的校準曲線


            04丨準確性

            通過測量市售的標準物質(zhì)BAM-S014(一種Li-NMC111正極標準物質(zhì)),對方法正確性進行最終驗證。在3個不同的日期制備7個該標準樣品的平行樣片并進行測量,其結(jié)果被羅列在表4中。


            使用NCM校準獲得的XRF測量結(jié)果與BAM-S 014的認證值非常匹配,標準偏差值明顯較低。測量結(jié)果和認證值之間的觀察差異非常小,并且在根據(jù)ISO指南35要求計算的允許差異范圍內(nèi)。


            此外,3個不同日期的結(jié)果一致性間接體現(xiàn)了了樣品制備方法的高度重現(xiàn)性以及Eagon 2熔樣機和Zetium光譜儀的穩(wěn)定性。


            表4 商用標準物質(zhì)BAM-S014的方法準確性驗證結(jié)果


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            *允許最大偏離來自ISO 35號指南的要求


            05丨精度和儀器穩(wěn)定性

            方法精密度(包括樣品制備和測量誤差)通過在一天內(nèi)制備和測量相同樣品的10個重復(fù)樣片來進行計算。  其結(jié)果示于表5。  此處的小標準偏差值證明了該方法的高精密度。

            表5 一日內(nèi)短期精密度


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            結(jié)論

            本應(yīng)用報告表明,利用NCM標準物質(zhì)校準套裝結(jié)合馬爾文帕納科的高精度熔融設(shè)備(Eagon 2)和XRF光譜儀(Zetium)可以提供三元正極材料及其前驅(qū)體的高度準確和精確的元素分析結(jié)果。該解決方案可實現(xiàn)高通量和無縫的元素分析,無需大量的樣品制備、專業(yè)的分析技能,也無需使用ICP分析通常所需的強酸化學(xué)品。

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