碳元素是自然界中存在的與人類最密切相關(guān)、最重要的元素之一,除了眾所周知的金剛石、石墨之外,在納米材料領(lǐng)域,富勒烯、碳納米管和石墨烯等低維碳納米材料,以及硅碳等復(fù)合材料,因其突出的力學(xué)、電學(xué)和化學(xué)性能在新材料領(lǐng)域的巨大的應(yīng)用前景,引發(fā)了國內(nèi)外持久的研究熱潮,21世紀(jì)甚至被稱為“碳世紀(jì)”。
但是,與科研領(lǐng)域的繁榮不同的是,低維碳納米材料在產(chǎn)業(yè)化的道路上一直沒有取得突破性的進(jìn)展。如何實(shí)現(xiàn)此類材料的低成本制備,哪一個(gè)領(lǐng)域?qū)⑹瞧鋵?shí)現(xiàn)大規(guī)模產(chǎn)業(yè)化的突破口,一直是科研人員及產(chǎn)業(yè)界人士探索的關(guān)鍵所在。
在此背景下,中國粉體網(wǎng)聯(lián)合江蘇省納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新中心、中國科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所,將于2018年4月24-25日在蘇州金陵觀園國際酒店舉辦 “2018低維碳納米材料制備及應(yīng)用技術(shù)交流會(huì)”,會(huì)議旨在共同探討低維碳材料現(xiàn)階段的發(fā)展中所面臨的機(jī)遇和挑戰(zhàn),分享最新的研究成果,共同推動(dòng)其產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程。作為微觀分析領(lǐng)域前沿技術(shù)的創(chuàng)新者和實(shí)踐者,TESCAN將出席此次技術(shù)交流會(huì),分享TESCAN在低維碳納米材料微觀分析領(lǐng)域取得的技術(shù)突破!
2018低維碳納米材料制備及應(yīng)用技術(shù)交流會(huì)
公司介紹
TESCAN是一家專注于提供微觀形貌、結(jié)構(gòu)和成分分析的科學(xué)儀器的跨國企業(yè),是全球知名的電子顯微儀器制造商,總部位于全球最大的電鏡制造基地-捷克布爾諾,目前已建立起全球的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),在捷克、法國和美國擁有4家研發(fā)中心、2個(gè)生產(chǎn)基地以及6家海外子公司,已有超過60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史。其產(chǎn)品主要有電子顯微鏡、聚焦離子束系統(tǒng)、多通道全息顯微鏡及相關(guān)分析附件和軟件,正被廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。
作為科學(xué)儀器的全球供應(yīng)商之一,TESCAN正為其在設(shè)計(jì)、研發(fā)和制造掃描電子顯微鏡及掃描電子顯微鏡在不同領(lǐng)域的應(yīng)用方面樹立良好的聲譽(yù)和品牌。目前TESCAN的產(chǎn)品和解決方案已經(jīng)在全球微納米技術(shù)領(lǐng)域取得了領(lǐng)先的地位,首創(chuàng)了掃描電鏡與拉曼共聚焦顯微鏡一體化技術(shù)(SEM-Raman)、雙束電鏡與飛行時(shí)間-二次離子質(zhì)譜儀一體化技術(shù)(FIB-SEM-TOF-SIMS)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù)(Xe Plasma FIB-SEM),是行業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者。TESCAN憑借優(yōu)異的性能贏得全世界越來越多的用戶認(rèn)可,目前生產(chǎn)的各系列電鏡在世界范圍內(nèi)受到廣泛的好評(píng),TESCAN的產(chǎn)品與技術(shù)正積極服務(wù)于全球客戶。
產(chǎn)品介紹
TESCAN的全系列電鏡產(chǎn)品,不僅僅是一個(gè)單一應(yīng)用的微觀分析工具,而是一個(gè)性能強(qiáng)大的綜合性微觀分析平臺(tái),擁有“All In One”的強(qiáng)大拓展分析功能,可以提供給用戶一個(gè)全面的綜合解決方案,能夠在掃描電鏡平臺(tái)結(jié)合EDS、EBSD等分析技術(shù)、FIB技術(shù)以及TESCAN獨(dú)家Raman、TOF-SIMS集成一體化技術(shù),極大地拓展分析應(yīng)用。接下來,主要簡(jiǎn)單介紹一下TESCAN公司獨(dú)創(chuàng)的兩款產(chǎn)品:TESCAN RISE掃描電鏡-拉曼光譜(SEM-Raman)一體化系統(tǒng)和雙束電鏡-飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(FIB-SEM-TOF-SIMS)一體化系統(tǒng)。
RISE掃描電鏡-拉曼光譜(SEM-Raman)一體化系統(tǒng)
RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)是一款新穎的顯微鏡技術(shù),在一個(gè)集成的顯微鏡系統(tǒng)中結(jié)合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術(shù),這種獨(dú)特的組合為顯微鏡用戶對(duì)樣品進(jìn)行綜合表征,提供了明顯的優(yōu)勢(shì)。
掃描電子顯微鏡是一個(gè)很好的表征納米范圍內(nèi)樣品表面結(jié)構(gòu)的可視化技術(shù),而共焦拉曼成像是表征樣品化學(xué)和分子組成的成熟光譜方法。RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)還可以同時(shí)得到樣品的2D、3D圖像,以及樣品中分子化合物組成的可視化分布結(jié)果。
TESCAN RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)
RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)通過實(shí)現(xiàn)原位、快速、方便和高性能的拉曼分析,可以極大的拓展分析應(yīng)用,在有機(jī)結(jié)構(gòu)解析、碳結(jié)構(gòu)解析、無機(jī)相鑒定、同分異構(gòu)分析、結(jié)晶度分析等領(lǐng)域作出重大突破。目前,RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)在地質(zhì)、礦物晶體、高分子聚合物、醫(yī)學(xué)、生命醫(yī)藥、寶玉石鑒定等領(lǐng)域均有了非常豐富的應(yīng)用。
關(guān)于RISE顯微鏡在碳材料分析方面的應(yīng)用案例,請(qǐng)點(diǎn)擊:
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雙束掃描電鏡-二次離子質(zhì)譜(FIB-SEM-TOF-SIMS)一體化系統(tǒng)
TESCAN是第一個(gè)將TOF-SIMS和自己的SEM/FIB成功集成在一起,創(chuàng)新成為一體化系統(tǒng)的廠家。聯(lián)用系統(tǒng)的創(chuàng)新打破了EDS及WDS的分析局限性,擁有更靈敏的檢出限和更好的空間分辨率,在對(duì)輕元素的探測(cè)、同位素檢測(cè)、深度剖析和化學(xué)結(jié)構(gòu)解析應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢(shì)。
TESCAN是第一個(gè)將TOF-SIMS和自己的FIB-SEM成功集成在一起,擁有這項(xiàng)技術(shù)的公司,這項(xiàng)技術(shù)是用聚焦離子束(FIB)將試樣剝離,產(chǎn)生帶電離子或者中性粒子,采集帶電離子作為TOF-SIMS的分析信號(hào),實(shí)現(xiàn)對(duì)于輕元素、同位素、三維數(shù)據(jù)重構(gòu)或者對(duì)薄膜深度方向的剖析和化學(xué)高分子試樣的官能團(tuán)等化學(xué)結(jié)構(gòu)的解析。FIB-SEM-TOF-SIMS一體化系統(tǒng)的創(chuàng)新打破了EDS及WDS的分析局限性,擁有更靈敏的檢出限和更好的空間分辨率,更加有利于實(shí)現(xiàn)三維快速成像,獲得樣品的綜合全面信息。
集成在FIB-SEM上的TOF-SIMS
FIB—SEM—TOF-SIMS技術(shù)獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)
而正是因?yàn)門ESCAN “All In One” 的創(chuàng)新產(chǎn)品設(shè)計(jì)理念,使得TESCAN的任何系統(tǒng)在接入EDS、WDS、RAMAN、TOF-SIMS等更多分析附件和設(shè)備時(shí)表現(xiàn)出更好的兼容性和更優(yōu)異的性能,對(duì)于樣品的進(jìn)一步組合分析提供了很大的便利。
如果您對(duì)掃描電鏡感興趣或者有相關(guān)問題需要咨詢
敬請(qǐng)關(guān)注“2018低緯碳納米材料制備及應(yīng)用技術(shù)交流會(huì)”與TESCAN工作人員現(xiàn)場(chǎng)交流