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        科學家發(fā)現(xiàn)新二維半導體材料ReS2


        來源:《自然—通訊》

        中國粉體網2月19日訊  最近,中科院半導體所超晶格國家重點實驗室由中美聯(lián)合培養(yǎng)的博士后Sefaattin Tongay等,在吳軍橋教授、李京波研究員、李樹深院士的團隊中,在二維ReS2材料基礎研究中取得重要進展,發(fā)現(xiàn)ReS2是一種新的二維半導體材料。這一重大發(fā)現(xiàn)改變了人們對傳統(tǒng)二維材料的認識。相關成果發(fā)表在2014年2月6日的《自然-通訊》上,即 Nature Communication, 2014,5, Article number:3252, doi:10.1038/ncomms4252。

            該論文以中科院半導體研究所超晶格國家重點實驗室為第一單位。

            近年來,二維半導體材料擁有新穎的物理性質而成為納米科學的研究熱點,除石墨烯以外,過渡金屬硫屬化合物(比如MoS2等二維材料)也受到了廣泛的關注。這類材料由厚度僅為數(shù)個原子的二維單層堆積而成,層與層之間為范德瓦耳斯作用。在人們的傳統(tǒng)觀念中,當這類層狀材料的層數(shù)逐漸減少直至單層的過程中,其電子結構和物理性質往往發(fā)生很大的改變,比如帶隙寬度顯著增大,間接帶隙向直接帶隙轉變,以及晶格振動能的改變等等。本項工作發(fā)現(xiàn)在ReS2中,單層和多層或者體材料的物理性質幾乎完全一樣,體材料的ReS2就像由無耦合的ReS2單層堆積而成,從而改變了人們對二維材料的傳統(tǒng)認識。研究表明,從體材料到單層,ReS2始終保持直接帶隙,帶隙值的變化非常小,并且拉曼譜也不會隨層數(shù)的改變而變化。靜壓實驗發(fā)現(xiàn)ReS2的光吸收譜和拉曼譜對于層間距的變化也不敏感,進一步證實了ReS2的層間退耦合。密度泛函計算顯示,單層的ReS2為1T相,并且會產生佩爾斯畸變。這一畸變將會阻止ReS2的有序堆積,并將層間電子波函數(shù)的交疊最小化,從而導致層間退耦合。ReS2體材料的這種特性將使得它成為研究二維材料新奇物理性質(如二維激子效應)的一個優(yōu)良的平臺,而無需制備高質量的單層材料。這些成果將對二維材料的實驗研究產生重要影響。這一重要的發(fā)現(xiàn)極大地豐富了人們對二維材料的認識。

            該工作得到了國家杰出青年基金和科技部973項目的支持。
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