天津檢驗檢疫局課題組研制的“納米尺度測量標(biāo)準(zhǔn)器”近日獲得國家實(shí)用新型專利授權(quán)。該項目可讓納米尺度測量更準(zhǔn)確，避免了日常因測量結(jié)果不準(zhǔn)確而產(chǎn)生的復(fù)檢、爭議等問題，從而填補(bǔ)納米材料領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)器的國內(nèi)空白。

    隨著納米科技飛速發(fā)展，用于測量納米尺度的高分辨率測量器具一直是人們關(guān)注的課題，為了得到更準(zhǔn)確的測量結(jié)果，需要有一個更接近于樣品尺度的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)——“納米標(biāo)準(zhǔn)器”。為此，天津檢驗檢疫局化礦金屬材料檢測中心課題組經(jīng)過兩年的研發(fā)，通過精選納米標(biāo)準(zhǔn)器材質(zhì)，采用先進(jìn)的聚焦離子束刻蝕技術(shù)，研制成功一種新型的用于掃描電鏡納米尺度測量的納米標(biāo)準(zhǔn)器。

    據(jù)課題組傅志強(qiáng)介紹，該納米標(biāo)準(zhǔn)器總體而言，具有分辨率高、線距均勻、材料穩(wěn)定、設(shè)計獨(dú)特等特點(diǎn)。例如，標(biāo)準(zhǔn)器具有７８納米的標(biāo)準(zhǔn)周期線距，遠(yuǎn)小于目前公認(rèn)的Ｓ１０００標(biāo)準(zhǔn)器的線距１０００納米（１微米），是真正意義上的納米級標(biāo)準(zhǔn)器；每個刻度周期線距的均勻性和一致性，可使得最小線距整數(shù)倍的距離都可以作為標(biāo)準(zhǔn)長度來比對；材料膨脹系數(shù)低、性能穩(wěn)定；設(shè)計獨(dú)特，將橫線、豎線、點(diǎn)陣和圓環(huán)形狀的標(biāo)準(zhǔn)刻度于一體，可以滿足不同形狀樣品的比對測量需求，從而解決了納米尺度更準(zhǔn)確的測量問題，對國內(nèi)納米行業(yè)的發(fā)展將起到很大的促進(jìn)作用。

    據(jù)介紹，該標(biāo)準(zhǔn)器在檢驗檢疫部門實(shí)際工作中，可用于納米級金屬粉末、金屬氧化物、碳納米材料等的掃描電鏡長度測量，相比于傳統(tǒng)的手段，在操作方面有體積小巧、定位容易、刻度清晰等優(yōu)勢，可增加掃描電鏡長度測量精確度１０％，避免了日常因測量結(jié)果不準(zhǔn)確而產(chǎn)生的復(fù)檢、爭議等問題，具有較強(qiáng)的實(shí)際應(yīng)用水平。

    記者了解到，該標(biāo)準(zhǔn)器目前已經(jīng)開始應(yīng)用于天津檢驗檢疫局實(shí)驗室掃描電鏡測量納米材料尺度的檢測實(shí)際工作中。