9月4日在廣州建國酒店舉行的“顆粒特性表征技術新進展”講座圓滿結束，來自廣東各地及華西南區(qū)的工礦企業(yè)、高校及研究單位的近百名客戶參加了本次講座。

本次講座由貝克曼庫爾特公司美國總部資深技術專家、顆粒分析儀器屆知名人士許人良博士主講。在近4個半小時的時間里，許博士作精彩的演講。講座中他分別介紹了納米粒度測量的最新國際標準與相應的測量新技術、貝克曼庫爾特公司獨有的美國專利---透明電極測量高濃度ZETA電位技術、創(chuàng)新的固體表面ZETA 電位測量技術、粉體干法測量的先進技術----“龍卷風”激光粒度儀，以及全球著名的Multisizer系列最新的庫爾特計數(shù)儀。

在技術問答環(huán)節(jié)，由于聽眾提問踴躍，時間遠遠超出設定時間，使得“技術問答”環(huán)節(jié)一直延續(xù)到晚飯的飯桌之上........

許人良博士在演講



聽眾聚精會神



技術講座現(xiàn)場



聽眾提問