在生產(chǎn)太陽(yáng)能電池的過程中，磨粉漿是線鋸切割過程中必不可缺的耗材。馬爾文公司的Sysmax FPIA-3000顆粒成像分析儀能夠快速高效地實(shí)現(xiàn)顆粒定量分析，監(jiān)測(cè)磨粉漿的損耗，使其在不影響產(chǎn)品質(zhì)量的情況下得到最大限度的循環(huán)利用。

在光伏、半導(dǎo)體以及微電子企業(yè)中，多重線鋸技術(shù)被廣泛應(yīng)用于切割硅晶板。為提高效率，降低成本，減少?gòu)U料，磨粉漿的循環(huán)利用勢(shì)在必行，因此需要精密監(jiān)控漿液中由切割過程形成顆粒的濃度，防止產(chǎn)品質(zhì)量的下降。漿液中形成的固體顆粒通過離心分離去除后，磨粉漿即可被安全的循環(huán)使用。

顆粒成像儀FPIA-3000能夠?qū)崟r(shí)分析漿液樣品中的顆粒，其內(nèi)置的CCD成像最高可同時(shí)捕捉到360000個(gè)顆粒。提供的實(shí)驗(yàn)結(jié)果包括粒徑、粒形、分布與顆粒數(shù)等統(tǒng)計(jì)參數(shù),并具備易于操作，自動(dòng)成像技術(shù)重現(xiàn)性好，分析結(jié)果完備的特點(diǎn)。僅需按下啟動(dòng)按鈕，2分鐘后即能得到分析結(jié)果。 FPIA-3000成像儀可以為0.8至300微米的顆粒提供高質(zhì)量的成像，能適應(yīng)日常監(jiān)測(cè)的需求，可靠地表征顆粒的粒徑分布與粒形分布,是表征乳液和懸液的理想方案。

粒形信息是分析大量顆粒之后得到的統(tǒng)計(jì)值。因此粒徑與粒形數(shù)據(jù)通常需要將所有顆粒成像的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)一步分析處理后得到。 更多詳細(xì)信息,請(qǐng)?jiān)L問www.malvern.com.cn

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