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2012年10月18日，由中國顆粒學(xué)會及北京粉體技術(shù)協(xié)會主辦的“2012年顆粒測試與表征技術(shù)培訓(xùn)班”在上海國際展覽中心成功舉辦，共有130多人參加了本次培訓(xùn)。



    培訓(xùn)班的6位授課人分別是英國馬爾文儀器公司中國區(qū)總經(jīng)理秦和義、大昌華嘉商業(yè)（中國）有限公司產(chǎn)品應(yīng)用專家傅曉偉博士、德國萊馳中國總部總經(jīng)理董亮、美國麥克儀器有限公司中國區(qū)總經(jīng)理許人良、德國新帕泰克有限公司蘇州代表處首席代表耿建芳、珠海歐美克儀器有限公司營銷總監(jiān)吳漢平。他們分別就粒度測試結(jié)果的影響因素解析、粉體流動性分析技術(shù) 、基于ISO13322-2標準的最新粒度粒形動態(tài)圖像分析技術(shù)、納米顆粒zeta電位測定以及應(yīng)用與粉體表面吸附技術(shù)以及在線粒度粒形測試技術(shù)等目前國際領(lǐng)先的粒度測試進行廣泛而深入的介紹。這些專家不僅詳細講解了粒度測試技術(shù)的基本理論、最新進展和應(yīng)用概況，而且針對在實際測試過程中遇到的問題，如何選擇測試技術(shù)等方面進行了系統(tǒng)的闡述。

    在培訓(xùn)的過程中，學(xué)員表現(xiàn)出積極的學(xué)習(xí)熱情，紛紛與各位專家探討工作和學(xué)習(xí)中遇到的問題。本次培訓(xùn)班促進了從事顆粒測試領(lǐng)域同行之間的交流，促進了企業(yè)界與學(xué)術(shù)界的交流與協(xié)作，受到培訓(xùn)者的一致好評。不少與會學(xué)員建議以后能繼續(xù)舉辦系列的培訓(xùn)課程。